KS C IEC 60749:2004
半导体器件.机械和气候试验方法

Semiconductor devices－Mechanical and climate test methods

被代替

KS C IEC 60749:2004 发布历史

KS C IEC 60749:2004由韩国科技标准局 KR-KATS 发布于 2004-08-13，并于 2004-08-13 实施。

KS C IEC 60749:2004 在中国标准分类中归属于: K46 电力半导体器件、部件。

KS C IEC 60749:2004 半导体器件.机械和气候试验方法的最新版本是哪一版？

最新版本是 KS C IEC 60749-34-2022 。

KS C IEC 60749:2004的历代版本如下：

• 2022年 KS C IEC 60749-34-2022 半导体器件 机械和气候测试方法 第34部分：功率循环
• 2021年 KS C IEC 60749-8-2021 半导体器件 机械和气候试验方法 第8部分：密封
• 2020年 KS C IEC 60749-9:2020 半导体器件机械和气候试验方法第9部分:标记持久性
• 2019年 KS C IEC 60749-3:2019 半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第3部分:外部视觉检查
• 2017年 KS C IEC 60749-34:2017 半导体器件 机械和环境测试方法 第34部分：电力循环
• 0000年 KS C IEC 60749-8-2006(2016)
• 2006年 KS C IEC 60749-8:2006 半导体器件.机械和气候试验方法.第8部分:密封
• 2005年 KS C IEC 60749-21:2005 半导体器件.机械和气候试验方法.第21部分:可焊性
• 2004年 KS C IEC 60749:2004 半导体器件.机械和气候试验方法
• 2003年 KS C IEC 60749-9:2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第9部分:标记的永久性
• 2002年 KS C IEC 60749-3:2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第3部分:外观检验

이 규격은 각각의 반도체 개별 소자 및 집적 회로에 사용 가능한 방법을 나열한 것이다. 그

标准号

KS C IEC 60749:2004

发布

2004年

发布单位

韩国科技标准局

替代标准

KS C IEC 60749-21:2005

当前最新

KS C IEC 60749-34-2022

 

 

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