KS C IEC 60749-11-2002
半导体器件.机械和气候试验方法.第11部分:温度的急速变化.双液电镀槽法

Semiconductor devices－Mechanical and climatic test methods－Part 11：Rapid change of temperature－Two－fluid－bath method

KS C IEC 60749-11-2002 发布历史

이 시험은 온도의 한계값 또는 급격한 변화에 갑자기 노출되는 경우, 소자의 내성과 이와

KS C IEC 60749-11-2002由韩国标准 KR-KATS 发布于 2002-12-31，并于 2002-12-31 实施。

KS C IEC 60749-11-2002 在中国标准分类中归属于: K46 电力半导体器件、部件。

KS C IEC 60749-11-2002的历代版本如下：

• 2002年12月31日 KS C IEC 60749-11-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第11部分:温度的急速变化.双液电镀槽法
• 2020年12月31日 KS C IEC 60749-11-2020 半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第11部分:温度快速变化 - 双流体浴法

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标准号

KS C IEC 60749-11-2002

发布日期

2002年12月31日

实施日期

2002年12月31日

废止日期

无

中国标准分类号

K46

国际标准分类号

31.080.00

发布单位

KR-KATS

适用范围

이 시험은 온도의 한계값 또는 급격한 변화에 갑자기 노출되는 경우, 소자의 내성과 이와