KS C IEC 60749-3-2002
半导体器件.机械和气候试验方法.第3部分:外观检验

Discrete semiconductor devices－Mechanical and climatic test methods－Part 3：External visual examination

KS C IEC 60749-3-2002 发布历史

이 규격은 반도체 소자가 재료, 설계, 구조, 표시 및 마무리 작업이 적용 가능한 구매

KS C IEC 60749-3-2002由韩国标准 KR-KATS 发布于 2002-12-31，并于 2002-12-31 实施。

KS C IEC 60749-3-2002 在中国标准分类中归属于: K46 电力半导体器件、部件。

KS C IEC 60749-3-2002的历代版本如下：

• 2002年12月31日 KS C IEC 60749-3-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第3部分:外观检验
• 2019年12月31日 KS C IEC 60749-3-2019 半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第3部分:外部视觉检查
• 2021年12月29日 KS C IEC 60749-3-2021 半导体器件.机械和气候试验方法.第3部分:外部目视检查

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标准号

KS C IEC 60749-3-2002

发布日期

2002年12月31日

实施日期

2002年12月31日

废止日期

无

中国标准分类号

K46

国际标准分类号

31.080.00

发布单位

KR-KATS

适用范围

이 규격은 반도체 소자가 재료, 설계, 구조, 표시 및 마무리 작업이 적용 가능한 구매