KS C IEC 60747-4-2006
半导体器件.分立器件.第4部分:微波二极管和晶体管

Semiconductor devices－Discrete devices－Part 4：Microwave diodes and transistors

KS C IEC 60747-4-2006 发布历史

이 규격은 다음과 같은 반도체 개별 소자에 관한 표준을 규정한다.-가변 커패시턴스 다이

KS C IEC 60747-4-2006由韩国标准 KR-KATS 发布于 2006-12-11，并于 2006-12-11 实施。

KS C IEC 60747-4-2006 在中国标准分类中归属于: K46 电力半导体器件、部件，在国际标准分类中归属于: 31.080.10 二极管,31.080.30 三极管,31.080.99 其他半导体分立器件。

KS C IEC 60747-4-2006的历代版本如下：

• 2002年12月31日 KS C IEC 60747-4-1-2002 半导体器件.分立器件.第4-1部分:微波二极管和晶体管.微波领域有效晶体管.空白详细规范
• 2002年12月31日 KS C IEC 60747-4-2-2002 半导体器件.分立器件和集成电路.第4-2部分:微波二极管和晶体管.集成线路微波放大器.空白详细规范
• 2006年12月11日 KS C IEC 60747-4-2006 半导体器件.分立器件.第4部分:微波二极管和晶体管
• 2017年05月30日 KS C IEC 60747-4-2017 半导体器件分立器件第4部分:微波二极管和晶体管

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标准号

KS C IEC 60747-4-2006

发布日期

2006年12月11日

实施日期

2006年12月11日

废止日期

无

中国标准分类号

K46

国际标准分类号

31.080.10;31.080.30;31.080.99

发布单位

KR-KATS

被代替标准

KS C IEC 60747-4-2001

适用范围

이 규격은 다음과 같은 반도체 개별 소자에 관한 표준을 규정한다.-가변 커패시턴스 다이

KS C IEC 60747-4-2006 中可能用到的仪器设备