ASTM D6132-13
采用超声波涂层测厚仪对应用有机涂层的干膜厚度进行无损测量的标准试验方法

Standard Test Method for Nondestructive Measurement of Dry Film Thickness of Applied Organic Coatings Using an Ultrasonic Coating Thickness Gage


ASTM D6132-13 中,可能用到以下仪器

 

 安东帕 CAT²c/i涂层测厚仪  膜厚测量

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安东帕CAT²c/i涂层测厚仪 球坑磨损测试法

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安东帕CAT²c/i涂层测厚仪

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赛默飞 非织造布(无纺布)测厚仪

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超声涂层测厚仪

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涂层厚度测量

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 涂层测厚仪

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涂层测厚仪

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涂镀层测厚仪

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超声波精密测厚仪

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标准号
ASTM D6132-13
发布
2013年
发布单位
美国材料与试验协会
替代标准
ASTM D6132-13(2017)
当前最新
ASTM D6132-13(2022)
 
 
1.1 本测试方法描述了使用超声波膜厚计来精确且无损地测量施加在异种材料基材上的有机涂层的干膜厚度。测量可以在现场结构、商业制造的产品或实验室测试样本上进行。这些类型的测厚仪可以准确测量混凝土、木材、墙板、塑料、纤维复合材料和金属等各种基材上有机涂层的干膜厚度。 1.2本测试方法不适用于在测量仪器负载下容易变形的涂层,因为仪器探头直接放置在涂层...

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ASTM D6132-13 中可能用到的仪器设备


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