GB/T 4589.1-1989
半导体器件 分立器件和集成电路总规范(可供认证用)
Semiconductor devices!*Generic specification for discrete devices and integrated circuits
GBT4589.1-1989, GB4589.1-1989
- 标准号
- GB/T 4589.1-1989
- 别名
- GBT4589.1-1989, GB4589.1-1989
- 发布
- 1989年
- 发布单位
- 国家质检总局
- 替代标准
- GB/T 4589.1-2006
- 当前最新
- GB/T 4589.1-2006
- 适用范围
- 本规范适用于半导体集成电路（以下简称器件），即规定了对器件进行质量评定时的总程序，并给出了下述测试和试验应遵循的总原则： 电特性测试； 气候和机械试验； 耐久性试验。 空白详细规范是本规范的补充。对特定种类的器件，其详细规范和本规范构成对器件质量的完整要求。
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