GA/T 1062-2013由行业标准-公共安全标准 CN-GA 发布于 2013-04-01,并于 2013-05-01 实施。
GA/T 1062-2013 在中国标准分类中归属于: A52 长度计量,在国际标准分类中归属于: 17.040.01 长度和角度测量综合。
GA/T 1062-2013 IC卡光标测试系统校准规范的最新版本是哪一版?
最新版本是 GA/T 1062-2013 。
本标准规定了IC卡光标测试系统的计量性能要求、通用技术要求、校准条件、校准项目和校准方法。本标准适用于IC卡光标测试系统的首次校准、后续校准和使用中检验。
离子色谱提供准确的结果,RSD远低于 ASTM D7359 中规定的重复性限值。使用舟进样模块进样和液体模块直接进样,测试结果对含有目标离子的标准品具有良好的回收率,这表明XPREP C-IC性能优秀。XPREP C-IC 是唯一能够通过直接进样和舟进样系统将样品引入水平炉的燃烧系统。...
3 输入校准品信息3.1 在主菜单按F5 System Management → F1 Definitions → F3 Calibrators。3.2 移动光标至需要定义的校准品下,按Enter → F8 Edit;若无相同校准品名称,按F1 Add Calib.。3.3 扫描校准批号卡,将校准品信息输入电脑,按Esc → Yes,储存这一校准品的数值。...
集成电路的高、低温测试都有自己的过热温度保护系统,在工厂的设定温度是+125℃,操作者可以按照自己的实际需求来设定高、低温的限定点,一旦温度超过设定的温度,测试仪就会自动停止工作。将待测 IC卡和温度传感器放在集成电路高低温测试的测试腔中,操作者设定需要测试的温度范围,从而开始集成电路高低温测试。...
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