GB/T 11297.6-1989
锑化铟单晶位错蚀坑的腐蚀显示及测量方法

Standard method for showing and measuring dislocation etch pits in Indium Antimonide single crystal

GBT11297.6-1989, GB11297.6-1989


标准号
GB/T 11297.6-1989
别名
GBT11297.6-1989, GB11297.6-1989
发布
1989年
发布单位
国家质检总局
当前最新
GB/T 11297.6-1989
 
 
适用范围
本方法采用硝酸-氢氟酸腐蚀剂腐蚀,适用于锑化铟原始晶片(111)铟面a位错的显示和测定。测量面偏离(111)面应不大于3°。

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