薄膜厚度测量仪 济南三泉中石实验仪器有限公司根据相关标准研发生产了薄膜厚度测量仪CHY-U, 适用薄膜、电池隔膜、太阳能电池硅片、纸张、胶带、箔片、硅片等各种材料的厚度测量,是一款超高测试误差的全自动测厚仪,测厚仪被广泛应用于质检机构、薄膜生产厂家、光伏厂等单位。 ...
· 实验条件仪器及附件: FTIR-650 傅里叶变换红外光谱仪; 氧碳测试附件 硅中氧碳测试支架; 测试条件: 分辨率: 2cm -1 扫描次数: 64次 检测器: DTGS 其他: 千分尺:精确至0.01mm 氢氟酸(HF):分析纯(A.R) · 样品的制备按GB/T 1558-2009和GB/T 1557-2006要求选取合适的参比硅片和样品硅片...
该研究工作得到了国家自然科学基金(11104288)及宁波市自然科学基金(2011A610202)等项目的支持。 不同厚度Al2O3减反层沉积后的带绒面单晶硅片照片及其反射率曲线 在经过Al2O3钝化处理后的p-Si的最佳少子寿命测试结果 在经过Al2O3钝化处理后的n-Si的最佳少子寿命测试结果...
如图3所示,实测膜层厚度约47.4 nm,同时铝、氧原子比也非常接近于2:3。通过平面内的多点检测,Layerprobe可以给出膜厚-成分梯度的变化。图4是使用Layerprobe对硅片上轨纯铝镀层进行膜厚均匀度检测的结果。图 3:结果页面。理论谱图与实验谱图高度契合,同时提供了K因子预测值与实际值的相对误差图 4:铝膜的厚度梯度分布。...
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