IEC 62047-21:2014
半导体器件. 微型机电装置. 第21部分: 薄膜MEMS材料泊松比试验方法

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 21: Test method for Poisson's ratio of thin film MEMS materials


标准号
IEC 62047-21:2014
发布
2014年
发布单位
国际电工委员会
当前最新
IEC 62047-21:2014
 
 
引用标准
ASTM E132-04 IEC 62047-8:2011
被代替标准
IEC 47F/185/FDIS:2014
适用范围
IEC 62047的本部分规定了对长度和宽度小于10mm、厚度小于10?的薄膜微机电系统(MEMS)材料施加单轴和双轴载荷所获得的测试结果来确定泊松比。 ?。

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