GB/T 31225-2014由国家质检总局 CN-GB 发布于 2014-09-30,并于 2015-04-15 实施。
GB/T 31225-2014 在中国标准分类中归属于: J04 基础标准与通用方法,在国际标准分类中归属于: 17.040.01 长度和角度测量综合。
GB/T 31225-2014 椭圆偏振仪测量硅表面上二氧化硅薄层厚度的方法的最新版本是哪一版?
最新版本是 GB/T 31225-2014 。
本标准给出了使用连续变波长、变角度的光谱型椭圆偏振仪测量硅表面上二氧化硅薄层厚度的方法。本标准适用于测试硅基底上厚度均匀、各向同性、10 nm~1 000 nm厚的二氧化硅薄层厚度,其他对测试波长处不透光的基底上单层介电薄膜样品厚度测量可以参考此方法。
序号标准号中文名称实施日期107GB/T 7600-2014运行中变压器油和汽轮机油水分含量测定法(库仑法)2015-04-01111GB/T 31225-2014椭圆偏振仪测量硅表面上二氧化硅薄层厚度的方法2015-04-15112GB/T 31226-2014扫描隧道显微术测定气体配送系统部件表面粗糙度的方法2015-04-15113GB/T 31227-2014原子力显微镜测量溅射薄膜表面粗糙度的方法...
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某晶振行业采用我们的仪器进行的膜厚进行测试,得到了良好结果。(2)膜厚仪在二氧化硅测量的应用二氧化硅薄膜以其优异的性能在半导体、微波、光电子、光学器件以及薄膜传感器等领域获得了广泛的应用,因此非常有必要对其膜厚进行监测和控制。测试结果(3)膜厚仪在派瑞林涂层上的应用派瑞林涂层广泛的应用于PCB板及相关的电子器件涂层。其有优异的电绝缘性和防护性,是当代最有效的防潮、防霉、防腐、防盐雾涂层材料。...
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