ISO/IEC 10373-2-2015
识别卡.测试方法.第2部分:带磁条的卡

Identification cards - Test methods - Part 2: Cards with magnetic stripes

哪些标准引用了ISO/IEC 10373-2-2015

 

GB/T 15120.2-2012识别卡.记录技术.第2部分：磁条.低矫顽力GB/T 15935-2013信息技术 存折本的磁条GB/T 15120.6-2012识别卡 记录技术 第6部分：磁条-高矫顽力ISO/IEC 10373-1-2006识别卡.试验方法.第1部分:一般特性BS ISO/IEC 7811-2-2014识别卡.记录技术.磁带.低矫顽磁性ISO/IEC 7811-6-2008识别卡.记录技术.第6部分:磁条.高矫顽磁性ISO/IEC 15457-3-2008识别卡.薄柔性卡.第3部分:试验方法BS EN ISO/IEC 7811-7-2018BS ISO/IEC 7811-6-2014识别卡.记录技术.磁条.高矫顽性BS ISO/IEC 7811-8-2014识别卡.记录技术.磁条.51.7 kA/m(650Oe)的矫顽磁性GOST R ISO/IEC 7811-7-2017识别卡. 记录技术. 第27部分. 高矫顽磁性磁条. 高密度BS ISO/IEC 7811-2-2018BS ISO/IEC 7811-7-2014识别卡. 记录技术. 磁条. 高矫顽力和高密度GOST R ISO/IEC 24789-2-2016识别卡. 卡的使用寿命. 第2部分. 评估方法GOST R ISO/IEC 7811-7-2017识别卡. 记录技术. 第27部分. 高矫顽磁性磁条. 高密度BS ISO/IEC 8484-2014信息技术.存折本磁条GOST R ISO/IEC 7811-6-2017识别卡. 记录技术. 第6部分. 高矫顽磁性磁条GOST R ISO/IEC 24789-1-2016识别卡. 卡的使用寿命. 第1部分. 应用配置文件和要求GOST R ISO/IEC 7811-2-2017识别卡. 记录技术. 第2部分. 低矫顽磁性磁条GOST R ISO/IEC 24789-1-2016识别卡. 卡的使用寿命. 第1部分. 应用配置文件和要求BS ISO/IEC 7811-2-2014识别卡.记录技术.磁带.低矫顽磁性GOST R ISO/IEC 7811-8-2017识别卡. 记录技术. 第8部分. 矫顽磁性为51,7 kA/m (650 Oe)的磁条GOST R ISO/IEC 7811-8-2017识别卡. 记录技术. 第8部分. 矫顽磁性为51,7 kA/m (650 Oe)的磁条GOST R ISO/IEC 7811-6-2017识别卡. 记录技术. 第6部分. 高矫顽磁性磁条BS ISO/IEC 7811-6-2018BS ISO/IEC 8484-2014信息技术.存折本磁条GOST R ISO/IEC 24789-2-2016识别卡. 卡的使用寿命. 第2部分. 评估方法GOST R ISO/IEC 7811-2-2017识别卡. 记录技术. 第2部分. 低矫顽磁性磁条

 

 

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标准号
ISO/IEC 10373-2-2015
发布日期
2015年01月
实施日期
废止日期
无
中国标准分类号
L64
国际标准分类号
35.240.15
发布单位
IX-ISO
引用标准
IEC 60454-2-2007 ISO 1302-2002 ISO 2409-2013 ISO 3274-1996 ISO 4288-1996 ISO/IEC 7810-2003 ISO/IEC 7811-2-2014 ISO/IEC 7811-6-2014 ISO/IEC 7811-7-2014 ISO/IEC 7811-8-2014 ISO/IEC 8484-2014
被代替标准
ISO/IEC 10373-2-2006 ISO/IEC FDIS 10373-2-2014 ISO/IEC 10373-2 Technical Corrigendum 1-2010

ISO/IEC 10373-2-2015系列标准

ISO/IEC 10373-1 AMD 1-2012 识别卡.试验方法.第1部分:一般特性.修改件1 ISO/IEC 10373-1 CORR 1-2002 识别卡.试验方法.第1部分:一般特性试验.技术勘误1 ISO/IEC 10373-1-2020 ISO/IEC 10373-1-2006/Amd 1-2012 识别卡.试验方法.第1部分:一般特性.修改件1 ISO/IEC 10373-9:2011 身份证——测试方法第9部分:光存储卡——全息记录法 ISO/IEC 10373-2 CORR 1-2010 识别卡.试验方法.第2部分:磁条卡.技术勘误表1 ISO/IEC 10373-2 Technical Corrigendum 1-2010 识别卡.试验方法.第2部分:磁条卡.技术勘误表1 ISO/IEC 10373-3 CORR 1-2013 识别卡. 试验方法. 第3部分: 带触点和相关接口设备的集成电路卡; 技术勘误1 ISO/IEC 10373-3 Technical Corrigendum 1-2013 识别卡. 试验方法. 第3部分: 带触点和相关接口设备的集成电路卡; 技术勘误1 ISO/IEC 10373-3-2018 识别卡 - 测试方法第3部分:带触点和相关接口设备的集成电路卡 ISO/IEC 10373-5-2014 识别卡. 测试方法. 第5部分: 光存储卡 ISO/IEC 10373-6 Amd 1-2021 ISO/IEC 10373-6 Amd 1-2021 ISO/IEC 10373-6 Amd 2-2020 ISO/IEC 10373-6 Amd 2-2020 ISO/IEC 10373-6 AMD 3-2012 识别卡.试验方法.第6部分:近程卡.修改件3:其他参数,批号,不匹配的AFI和TR2的交换 ISO/IEC 10373-6 AMD 4-2012 识别卡.试验方法.第6部分:近程卡.修改件4:帧大小从512到4096字节和比特率为fc/8, fc/4和fc/2 ISO/IEC 10373-6 AMD 5-2007 识别卡.试验方法.第6部分:近接卡.修改件5:fc/64、fc/32和fc/16的比特率 ISO/IEC 10373-6 AMD 7-2010 识别卡.试验方法.第6部分:近程卡.修改件7:电子护照用试验方法 ISO/IEC 10373-6 CORR 1-2013 识别卡. 试验方法. 第6部分: 感应卡. 技术勘误表1: R2值范围, PICC传输启动和EMD水平测量程序; 技术勘误表1 ISO/IEC 10373-6 Technical Corrigendum 1-2013 识别卡. 试验方法. 第6部分: 感应卡. 技术勘误表1: R2值范围, PICC传输启动和EMD水平测量程序; 技术勘误表1 ISO/IEC 10373-6-2020/Amd 2-2020 加强协调 ISO/IEC 10373-6-2001/Amd 1-2007 识别卡.试验方法.第6部分:接近卡.修改件1:接近卡的协议试验方法 ISO/IEC 10373-6-2001/Amd 2-2003 识别卡.试验方法.第6部分:接近卡.修改件2:改进的射频试验方法 ISO/IEC 10373-6-2001/Amd 3-2006 识别卡.试验方法.第6部分:接近卡.修改件3:接近耦合装置的协议试验方法 ISO/IEC 10373-6-2001/Amd 4-2006 识别卡.试验方法.第6部分:接近卡.修改件4:PCD RF接口和PICC交变场暴露的附加试验方法 ISO/IEC 10373-6-2001/Amd 5-2007 识别卡.试验方法.第6部分:接近卡.修改件5:fc/64、fc/32和fc/16的比特率 ISO/IEC 10373-6-2001/Amd 7-2010 识别卡.试验方法.第6部分:接近卡.修改件7:ePassport的试验方法 ISO/IEC 10373-6-2011/Amd 1-2012 ISO/IEC 10373-6-2011/Amd 2-2012 ISO/IEC 10373-6-2011/Amd 3-2012 ISO/IEC 10373-6-2011/Amd 4-2012 ISO/IEC 10373-6-2016/Amd 3-2018 ISO/IEC 10373-6-2016/AMD3-2018 修改件3.识别卡.试验方法.第6部分:接近卡 ISO/IEC 10373-6-2020/Amd 1-2021 动态功率级管理 ISO/IEC 10373-6-2020/Amd 2-2020 加强协调 ISO/IEC 10373-7-2019 个人识别卡和安全装置.试验方法.第7部分:非接触邻近物体 ISO/IEC 10373-8-2011 识别卡.测试方法.第8部分:USB-ICC ISO/IEC 10373-9-2011 标示卡.试验方法.第9部分:光学存储卡.全息记录方法

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