KS B ISO 14880-2-2013
光学和光子学.显微物镜系列.第2部分:波像差的试验办法

Optics and photonics ― Microlens arrays ― Part 2: Test methods for wavefront aberrations

KS B ISO 14880-2-2013 发布历史

이 표준은 마이크로렌즈 어레이 내에 위치한 마이크로렌즈의 파면 수차를 측정하기 위한 방법을 기술한다. 이 표준은 한 개 이상의 동일 기판의 표면 또는 내부에 형성된 작은 렌즈들로 구성된 마이크로렌즈 어레이에 적용된다.

KS B ISO 14880-2-2013由韩国标准 KR-KATS 发布于 2013-12-31，并于 2013/12/31 实施。

KS B ISO 14880-2-2013 在中国标准分类中归属于: L50 光电子器件综合，在国际标准分类中归属于: 31.260 光电子学、激光设备。

KS B ISO 14880-2-2013的历代版本如下：

• 2008年02月12日 KS B ISO 14880-2-2008 光学和光子学.显微物镜系列.第2部分:波像差的试验办法
• 2013年12月31日 KS B ISO 14880-2-2013 光学和光子学.显微物镜系列.第2部分:波像差的试验办法
• 2018年06月11日 KS B ISO 14880-2-2018 光学和光子学 - 微透镜阵列 - 第2部分:波前像差的测试方法

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标准号

KS B ISO 14880-2-2013

发布日期

2013年12月31日

实施日期

2013年12月31日

废止日期

无

中国标准分类号

L50

国际标准分类号

31.260

发布单位

KR-KATS

被代替标准

KS B ISO 14880-2-2008

适用范围

이 표준은 마이크로렌즈 어레이 내에 위치한 마이크로렌즈의 파면 수차를 측정하기 위한 방법을 기술한다. 이 표준은 한 개 이상의 동일 기판의 표면 또는 내부에 형성된 작은 렌즈들로 구성된 마이크로렌즈 어레이에 적용된다.