KS B ISO 14999-4:2011
光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第4部分:KS B ISO 10110中指定公差的注释和评定

Optics and photonics-Interferometric measurement of optical elements and optical systems-Part 4:Interpretation and evaluation of tolerances specified in KS B ISO 10110


 

 

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试： 免费下载 KS B ISO 14999-4:2011 前三页，或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准，
点击右侧 “立即购买” 按钮开始采购（由第三方提供）。

 

标准号
KS B ISO 14999-4:2011
发布
2011年
发布单位
韩国科技标准局
替代标准
KS B ISO 14999-4:2016
当前最新
KS B ISO 14999-4-2016(2021)
 
 
适用范围
KS B ISO 14999 시리즈에서 이 표준은 광학 요소 측정과 관련된 간섭 데이터의 해

KS B ISO 14999-4:2011相似标准

KS B ISO 14999-4:2016 光学和光子学 光学元件和光学系统的干涉仪测量 第4部分：KS B ISO 10110中指定公差的注释和评定 ISO 14999-4:2007 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第4部分:ISO 10110中指定公差的注释和评定 NF S10-009-4:2007 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第4部分:ISO 10110中指定公差的注释和评定 ISO 14999-4:2015 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第4部分:ISO 10110中指定公差的注释和评定 KS B ISO 14999-4-2016 光学和光子学光学元件和光学系统的干涉测量第4部分:KS B ISO 10110规定公差的解释和评定

推荐

了解表面质量

指定的表面质量直接影响成本，因此过分要求光学元件和采用高于要求的表面质量会不必要地增加成本。这使得了解表面质量规格以及它们如何影响系统性能对系统的成功和成本效益至关重要。有几个指定表面质量的标准，如美国军方性能规格 MIL-PRF-13830B 和 ISO 10110。...

3项激光器和激光相关设备国标征求意见发布 涉紫外、红外

　　分析测试百科网讯 近日，全国光学和光子学标准技术委员会电子光学系统分技术委员会负责归口的《激光器和激光相关设备光腔衰荡高反射率测量方法》、《激光器和激光相关设备-标准光学元件-第1部分：紫外、可见和近红外光谱范围内的元件》、《激光器和激光相关设备-标准光学元件-第2部分：红外光谱范围内的元件》等3项国家标准（征求意见稿）已完成，现公开征求意见。　　...

LAYERTEC镀膜和生产检测技术

激光损伤阈值测试05在LAYERTEC可以使用符合ISO标准和我们自己的程序进行LIDT测试（详见第37页和第38页）。可用的波长包括266纳米、355纳米、532纳米和1064纳米，脉冲持续时间为4-10纳秒。其他LIDT测试条件的测量是与汉诺威激光中心(LZH)合作进行的。此外，我们还可以在内部测量光学薄膜和块材料的吸收率。...

光学基片和镀膜

因此，楔形板是在较厚的一侧上测量的。除了尺寸和材料外，公差对价格最重要。当然，光学元件必须适合安装，因此直径不应大于指定值。其中最常见的规格是-0.1mm。大多数情况下，厚度在两个方向上都是自由的。LAYERTEC通常将其规定为±0.1mm的公差。图2：与楔形和中心对齐相关的不同种类的平面衬底（示意图）表面形态公差通常由干涉仪测量，并以参考波长λ来指定。...

KS B ISO 14999-4:2011 中可能用到的仪器设备

光学仪器组件


Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证：京ICP证110310号