KS C IEC 60749-34:2006
半导体器件.机械和环境测试方法.第34部分:电力循环

Semiconductor devices-Mechanical and climatic test methods-Part 34:Power cycling

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标准号: KS C IEC 60749-34:2006
发布: 2006年
发布单位: 韩国科技标准局
替代标准: KS C IEC 60749-34:2017
当前最新: KS C IEC 60749-34-2022

适用范围: 이 시험 방법은 반도체 내부 다이 및 내부 커넥터에서 소비하는 전력의 사이클링으 로 인한

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