KS C IEC 60749-9-2003
半导体器件.机械和气候试验方法.第9部分:标记的永久性

Semiconductor devices-Mechanical and climatic test methods-Part 9:Permanence of marking

KS C IEC 60749-9-2003 发布历史

이 규격의 목적은 인쇄회로기판 조립 공정으로부터 생기는 납땜 플럭스 찌꺼기를 제거하 는

KS C IEC 60749-9-2003由韩国标准 KR-KATS 发布于 2003-03-25，并于 2003-03-25 实施。

KS C IEC 60749-9-2003 在中国标准分类中归属于: K46 电力半导体器件、部件。

KS C IEC 60749-9-2003的历代版本如下：

• 2003年03月25日 KS C IEC 60749-9-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第9部分:标记的永久性
• 2020年12月31日 KS C IEC 60749-9-2020 半导体器件机械和气候试验方法第9部分:标记持久性

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试： 免费下载 KS C IEC 60749-9-2003 前三页，或者稍后再访问。

注意： 点击下载后，生成下载文件时间比较长，请耐心等待......

标准号

KS C IEC 60749-9-2003

发布日期

2003年03月25日

实施日期

2003年03月25日

废止日期

无

中国标准分类号

K46

国际标准分类号

31.080.00

发布单位

KR-KATS

适用范围

이 규격의 목적은 인쇄회로기판 조립 공정으로부터 생기는 납땜 플럭스 찌꺼기를 제거하 는