ASTM E1426-14由美国材料与试验协会 US-ASTM 发布于 2014。
ASTM E1426-14在国际标准分类中归属于: 71.040.50 物理化学分析方法。
1.1 该测试方法涵盖了通过实验确定 X 射线弹性常数 (XEC) 的程序,以通过 X 射线衍射技术评估残余应力和外加应力。 XEC 将宏观应力与多晶样品中特定晶体方向上测量的应变联系起来。 XEC 是弹性模量、材料的泊松比以及为测量选择的 hkl 平面的函数。有两个 XEC,分别称为 1/2 S2hkl 和 S1 hkl。 1.2 本测试方法适用于所有用于测量宏观残余应力的X射线衍射仪器,这些仪器使用高背反射区域中衍射峰位置的测量来确定晶格间距的变化。 1.3 本测试方法适用于所有用于残余应力测量的X射线衍射技术,包括单次、双次和多次曝光技术。 1.4 以 SI 单位表示的值被视为标准值。括号中给出的值是英寸-磅单位的数学转换,仅供参考,不被视为标准。
1.5 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题(如果有)。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。
以上的例子表明,所采用的制造工艺并非总是得到良好的控制。很多情况下,需要在制造过程中和制造的最后阶段采用无损检测技术检测汽车零件的残余应力,使用X射线衍射法测定残余应力就成为汽车及零部件制造厂的不二选择。相关知识:X射线应力分析仪X射线应力测定仪在特种设备检验中的应用芬兰xstress3000残余应力测定仪带您了解更多...
使用限制主要取决于两个相邻的齿尖到齿根的角度(见图10)图10.测定齿轮根部应力时测角仪的摆动角度范围中国标准GB/T 7704和国际标准SAE J784a、ASTM E915-10和EN 15305-2008要求在测量残余应力采用多次曝光技术(MET),仪器设备要满足这些标准并按照这些标准进行校准。...
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