制备包含晶粒孔隙的陶瓷参考试样的标准指南 是非强制性国家标准,您可以免费下载预览页
使用标准的ASTM方法并未有效减少这种情况,延长9μm/800grit步骤也未带来显著改变。然而,当我们延长3μm抛光步骤时,孔隙率明显下降。然后我们在TexMet C布上添加1um抛光步骤并继续跟踪视孔隙率,直到保持稳定,然后按照表I和表II进行最终抛光。图7显示了通过这种改良方法II进行制备的孔隙率分析,如表4所示。可以明显看出视孔隙率已大大降低。...
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