JIS B7440-7-2015
几何产品技术规格 (GPS). 坐标测量机 (CMM) 的验收试验和复检试验. 第7部分: 配有成像探测系统的坐标测量机 (CMM)

Geometrical product specifications (GPS) -- Acceptance and reverification tests for coordinate measuring machines (CMM) -- Part 7: CMMs equipped with imaging probing systems

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标准号
JIS B7440-7-2015
发布日期
2015年10月20日
实施日期
废止日期
无
中国标准分类号
N34
国际标准分类号
17.040.30
发布单位
JP-JISC

JIS B7440-7-2015系列标准

JIS B7440-1-2003 几何图形产品规范(GPS).坐标测量机(CMM)的验收和再验证试验.第1部分:词汇 JIS B7440-9-2017 产品几何技术规范(GPS). 坐标测量系统(CMS)的验收和复检试验. 第9部分: 带多重探测系统的CMM JIS B7440-2-2013 几何产品技术规范(GPS).坐标测量机(CMMs)的验收和再验证试验.第2部分:尺寸测量用坐标测量机 JIS B7440-3-2003 几何图形产品规范(GPS).坐标测量机(CMM)的验收和再验证试验.第3部分:以旋转台坐标轴作为第四轴的坐标测量机 JIS B7440-4-2003 几何图形产品规范(GPS).坐标测量机(CMM)的验收和再验证试验.第4部分:扫描测量模式用坐标测量机 JIS B7440-5-2022 JIS B7440-6-2004 产品几何量技术规范(GPS).坐标测量机(CMM)的验收和复检试验.第6部分:高斯相关特性计算中的错误估计 JIS B7440-8-2015 产品几何量技术规范(GPS).坐标测量机(CMM)的验收和复检试验.第8部分:带光学距离传感器的CMMs JIS B7440-9-2017 产品几何技术规范(GPS). 坐标测量系统(CMS)的验收和复检试验. 第9部分: 带多重探测系统的CMM


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