(3)X-射线荧光光谱(X-ray fluorescence spectrometry, XFS)是一种非破坏性的分析方法,可对固体样品直接测定。在纳米材料成分分析中具有较大的优点;X射线荧光光谱仪有两种基本类型波长色散型和能量色散型;具有较好的定性分析能力,可以分析原子序数大于3的所有元素。...
X射线荧光能谱仪(EDXRF)对X射线的总检测效率比波谱高,在宝石学中应用最广泛。可同时测定样品中几乎所有的元素,分析速度快;缺点是能量分辨率差,探测器必须在低温下保存,对轻元素检测有困难。3.样品制备及测试适用性样品要求表面抛光。...
在射线检测技术已经十分成熟、新型的射线检测器件和手段层出不穷的今天,获取X射线衍射图像的仪器设备大多数采用射线检测器为测量记录手段,一般都称之为××衍射仪。衍射仪法采用射线检测器来检测衍射强度或同时检测衍射方向以及衍射强度,通过仪器测量记录系统或计算机处理系统得到以图形或数字形式表达的多晶衍射图谱数据。...
02X射线衍射仪(XRD) 效果:样品的成分,尤其是晶体结构的材料,可以测得晶体的点阵常数,组成以及定量计算和模拟等。原理:X射线是原子内层电子在高速运动电子的轰击下跃迁而产生的光辐射,主要有连续X射线和特征X射线两种。晶体可被用作X光的光栅,这些很大数目的原子或离子/分子所产生的相干散射将会发生光的干涉作用,从而影响散射的X射线的强度增强或减弱。...
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