GB/T 32466-2015
电工电子产品加速应力试验规程 高加速应力筛选导则

Accelerated stress testing procedures for electric and electronic products.Guidance for highly accelerated stress screen

GBT32466-2015, GB32466-2015


GB/T 32466-2015 中,可能用到以下仪器设备

 

Operetta CLS高内涵成像分析系统

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珀金埃尔默企业管理(上海)有限公司PerkinElmer

 

Opera Phenix Plus高内涵筛选系统

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珀金埃尔默企业管理(上海)有限公司PerkinElmer

 

Image Xpress Micro 4 高内涵成像分析系统

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美谷分子仪器(上海)有限公司

 

BioTek Cytation 5 细胞成像多功能微孔板检测系统

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安捷伦细胞分析事业部(BioTek)

 

ImageXpress Nano全自动智能高内涵成像系统

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美谷分子仪器(上海)有限公司

 

ImageXpress Micro Confocal共聚焦高内涵成像系统

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美谷分子仪器(上海)有限公司

 

ImageXpress Micro XLS 宽场高内涵成像分析系统

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CellInsight CX5高内涵分析系统

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赛默飞 AppliedBiosystems

 

标准号
GB/T 32466-2015
别名
GBT32466-2015
GB32466-2015
发布
2015年
发布单位
国家质检总局
当前最新
GB/T 32466-2015
 
 
引用标准
GB/T 2421.1-2008 GB/T 2423.22-2012 GB/T 2423.56-2006 GB/T 2424.5-2006 GB/T 29309-2012
本标准规定了高加速应力筛选的一般要求和试验方法。 本标准适用于电工电子产品及其电子部件、印制电路板组件等。对于大型整机,宜优先考虑对其前端的装配级别(如印制电路板组件、子模块)进行试验。 本标准适用于产品的试产阶段或批量生产阶段。

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