1点或5点;外部控制可以最多测量5000点;知名用户:王喆垚:微电子所 蔡坚:微电子所 许军:微电子所 任天令:微电子所 陈炜:微电子所 王敬:微电子所 邓宁:微电子所 吴华强:微电子所 伍晓明:微电子所技术团队:设备工程师:曹秉军测试工程师:包艳琳功能特色:用于测量硅晶片上传导薄膜的方块电阻,可测量离子注入层、薄金属膜或外延层的方块电阻。...
二、适用行业:广泛用于:生产企业、高等院校、科研部门对导电陶瓷、硅、锗单晶(棒料、晶片)电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃(ITO)和其它导电薄膜的方块电阻、电阻率和电导率数据.三、功能介绍:液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。...
四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置,可以测量硅、锗单晶电阻率和硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃和其他导电薄膜的方块电阻,主要用于评估半导体薄膜和薄片的导电性能。广泛用于半导体厂家、太阳能行业,还能满足科研单位的精密研究。 ...
高温四探针测试仪可以实现高温、真空及惰性气氛条件下测量硅、锗单晶(棒料、晶片)电阻率和外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃(ITO)和其他导电薄膜的方块电阻。 ...
Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号