电容器纸介损耗因数(tanδ)测定法, 您可以免费下载预览页
l 低介电常数ε=2.18~3.15(1MHz)、低介电损耗tanδ=1.15×10-3~3.10×10-3(1MHz)。l 高耐金属离子迁移性,吸湿后仍保持优良的绝缘性。l 有优良的机械加工特性、耐药品性、耐放射性、耐磨性以及尺寸稳定性。...
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