IEC 62435-2:2017
电子元件. 电子半导体设备的长期储存. 第2部分: 劣化机制
Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 2: Deterioration mechanisms
IEC 62435-2:2017 中，可能用到以下仪器设备
- 标准号
- IEC 62435-2:2017
- 发布
- 2017年
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 当前最新
- IEC 62435-2:2017
- 引用标准
- IEC 60749-20-1:2009
- 被代替标准
- IEC 47/2327/FDIS:2016
- IEC 62435 的这一部分与劣化机制相关，并涉及组件随着时间的推移而劣化的方式，具体取决于所应用的存储条件。本部分还包括可用于评估通用劣化机制的测试方法指南。通常，本部分与 IEC 62435-1 结合使用，用于任何长期存储的设备，对于计划长期存储的产品，其持续时间可能超过 12 个月。 IEC 62435-5 至 IEC 62435-9（建议）中详细介...
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