IEC 61745:2017
光学纤维几何参数测量装置校准端面影像分析程序
End-face image analysis procedure for the calibration of optical fibre geometry test sets
- 标准号
- IEC 61745:2017
- 发布
- 2017年
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 当前最新
- IEC 61745:2017
- 被代替标准
- IEC 86/510/CDV:2017 IEC 61745:1998
- 适用范围
- 本文档描述了执行端面图像分析（也称为“近场”或“灰度”分析）的测试装置的校准。然而，这些原理可以应用于不同类型的测试集。概述的程序由校准实验室和几何测试装置的制造商或用户执行，目的是校准几何测试装置和评估在校准测试装置上进行的测量的不确定性。本文件不包括光纤涂层或光缆测量测试装置的校准。
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