在用XPS测量绝缘体或者半导体时,需要对荷电效应所引起的偏差进行校正(荷电校正的目的),称之为“荷电校正”。 2. 如何进行荷电校正? 最常用的,人们一般采用外来污染碳的C1s作为基准峰来进行校准。以测量值和参考值(284.8 eV)之差作为荷电校正值(Δ)来矫正谱中其他元素的结合能。 ...
X射线光电子能谱(XPS)主要应用是测定光电子动能进而求得结合能实现对表面元素分析。众所周知,在XPS中谱仪控制、数据采集和分析过程十分复杂,而岛津/Kratos公司AXIS Supra的光电子能谱配有的ESCApe软件具有控制和监测谱仪、采集分析数据等功能,可以简单灵活的实现上述功能。没错,我就是佛系青年!但今天我要为自己打Call! ...
五、荷电中和系统用XPS测定绝缘体或半导体时,由于光电子的连续发射而得不到足够的电子补充,使得样品表面出现电子“亏损”,这种现象称为“荷电效应”。 荷电效应将使样品出现一个稳定的表面电势VS,它对光电子逃离有束缚作用,使谱线发生位移,还会使谱锋展宽、畸变。因此XPS中的这个装置可以在测试时产生低能电子束,来中和试样表面的电荷,减少荷电效应。...
专利的双束中和源避免绝缘样品发生荷电,因为使用极低能量的电子,大多数情况下将无需进行荷电校正。#深度剖析Nexsa G2 系统配备有标准离子源或 MAGCIS(可选的单粒子和气体团簇复合型离子源) 进行深度剖析。自动离子源优化和气路控制可确保卓越的性能和实验重现性。#多技术联用使用 Nexsa G2 系统,所有技术将触手可及,一套系统全面分析您的样品。...
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