ASTM E285-08(2015)由美国材料与试验协会 US-ASTM 发布于 2008。
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ASTM E285-08(2015) 使用原子力显微镜测量纳米粒子的标准指南的最新版本是哪一版?
最新版本是 ASTM E285-08(2020) 。
1.1 该测试方法涵盖了烧蚀材料的筛选,以确定在氧乙炔燃烧器提供的稳定热气流环境中作为平板进行测试时的相对隔热效果。 1.2 本测试方法应用于测量和描述材料、产品或组件在受控实验室条件下响应热和火焰的特性,而不应用于描述或评估材料、产品的火灾危险,或实际火灾条件下的组件。然而,该测试方法的结果可用作火灾风险评估的要素,该评估考虑了与特定最终用途的火灾危险评估相关的所有因素。
1.3 以 SI 单位表示的数值应被视为标准。
1.4 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题(如果有)。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。
原子力显微镜(Atomic Force Microscopy, AFM)是继扫描隧道显微镜(Scanning Tunneling Microscopy, STM)之后发明的一种具有原子级高分辨的新型仪器,可以在大气和液体环境下对各种材料和样品进行纳米区域的物理性质包括形貌进行探测。本标准文本将概述纳米粒子的原子力显微镜样品制备,以及纳米粒子尺寸的原子力显微镜法测量。...
原子力显微镜测量粒子直径范围为1nm~8mm。 此外,透射电镜法与原子力显微镜法测定纳米粒子的粒径的准确性与纳米粒子的分散性,观察者本身的局限性有关。一些团聚体可能被误认为一次颗粒,影响了测量准确性。所以,透射电镜法和原子力显微镜法的粒径测量值有可能会大于实际粒径值。 X 射线衍射法、透射电子显微镜法、原子力显微镜法三种测量方法都有自身特点,没有一种方法是能够适用于所有情况的通用方法。...
原子力显微镜测量粒子直径范围约为0.1nm~数十纳米。 此外,透射电镜法与原子力显微镜法测定纳米粒子的粒径的准确性与纳米粒子的分散性,观察者本身的局限性有关。一些团聚体可能被误认为一次颗粒,影响了测量准确性。所以,透射电镜法和原子力显微镜法的粒径测量值有可能会大于实际粒径值。...
而这一涂层是可以调整的:如果想要测量更大的力,可以使用更硬的涂层;如果要测量的力很小,则可以使用像水凝胶一样的较软涂层。研究人员表示,作为一种超灵敏的纳米机械探测工具,新装置为研究一些微弱力提供了有力支持。它不仅能够收集微弱的力和声音,还可以对其进行量化;不仅比原子力显微镜更灵敏,也比原子力显微镜更小巧。...
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