ASTM E2642-09(2015)由美国材料与试验协会 US-ASTM 发布于 2009。
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1.1 该术语汇集并澄清了科学级冷却电荷耦合器件 (CCD) 探测器使用的基本术语和定义,从而允许最终用户和供应商在评估或讨论这些仪器时使用常见的记录术语。 CCD 检测器对 200 至 1100 nm 范围内的光敏感,文档中概述的术语基于针对该光谱范围围绕 CCD 开发的检测技术。 1.2 以 SI 单位表示的值被视为标准值。本标准不包含其他计量单位。
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