BS ISO 25498-2018
微光束分析.解析电子显微测定法.透射式电子显微镜对选定区域进行电子衍射分析

Microbeam analysis. Analytical electron microscopy. Selected area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope

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标准号

BS ISO 25498-2018

发布日期

2018年03月23日

实施日期

2018年03月23日

废止日期

无

中国标准分类号

G04

国际标准分类号

71.040.50

发布单位

GB-BSI

引用标准

ISO/IEC 17025 ISO 15932-2013 ED1 ASTM E 3-11

被代替标准

BS ISO 25498-2010