DIN IEC/TS 61967-3-2015
集成电路. 电磁辐射的测量. 第3部分: 辐射发射的测量. 表面扫描法(IEC/TS 61967-3-2014)

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 3: Measurement of radiated emissions - Surface scan method (IEC/TS 61967-3:2014)

DIN IEC/TS 61967-3-2015 发布历史

DIN IEC/TS 61967-3-2015由德国标准化学会 DE-DIN 发布于 2015-08。

DIN IEC/TS 61967-3-2015 在中国标准分类中归属于: L56 半导体集成电路，在国际标准分类中归属于: 31.200 集成电路、微电子学。

DIN IEC/TS 61967-3-2015 发布之时，引用了标准

• DIN EN 61967-1-2003 集成电路.150 kHz - 1GHz 电磁辐射的测量.第1部分:一般条件和定义 (IEC 61967-1:2002); 德文版本 EN 61967-1:2002
• IEC 60050-55-1970 国际电工词汇.第55章:电报和电话
• IEC 60050-101-1998 国际电工词汇 第101部分:数学
• IEC 60050-102-2007 国际电工词汇.第102部分:数学.一般概念和线性代数
• IEC 60050-103-2009 国际电工词汇.第103部分:数学运算.函数
• IEC 60050-111-1996 国际电工词汇 第111章:物理和化学
• IEC 60050-111 AMD 1-2005 修改件1.国际电工词汇.第111章:物理和化学
• IEC 60050-112-2010 国际电工词汇.第112部分:量和单位
• IEC 60050-113-2011 国际电工词汇.第113部分:电工学用物理现象
• IEC 60050-113 Corrigendum 1-2011 国际电工词典.第113部分:电子工程物理学:技术勘误表1
• IEC 60050-113 AMD 1-2014 国际电工词汇.第113部分:电工学用物理现象.修改件1
• IEC 60050-114-2014 国际电工词汇. 第114部分: 电化学

DIN IEC/TS 61967-3-2015的历代版本如下：

• 2012年05月 DIN IEC/TS 61967-3-2012 集成电路. 电磁辐射的测量. 第3部分: 辐射发射的测量. 表面扫描法. 集成电路(IEC 47A/880/CD-2012)
• 2015年08月 DIN IEC/TS 61967-3-2015 集成电路. 电磁辐射的测量. 第3部分: 辐射发射的测量. 表面扫描法(IEC/TS 61967-3-2014)

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标准号

DIN IEC/TS 61967-3-2015

发布日期

2015年08月

实施日期

废止日期

无

中国标准分类号

L56

国际标准分类号

31.200

发布单位

DE-DIN

引用标准

DIN EN 61967-1-2003 IEC 60050-55-1970 IEC 60050-101-1998 IEC 60050-102-2007 IEC 60050-103-2009 IEC 60050-111-1996 IEC 60050-111 AMD 1-2005 IEC 60050-112-2010 IEC 60050-113-2011 IEC 60050-113 Corrigendum 1-2011 IEC 60050-113 AMD 1-2014 IEC 60050-114-2014 I

被代替标准

DIN IEC/TS 61967-3-2012

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