VDI/VDE 2634 Blatt 2-2002
光学 3D 测量系统 基于区域扫描的光学系统

Optical 3D-measuring systems - Optical systems based on area scanning

2012-07

VDI/VDE 2634 Blatt 2-2002 中,可能用到以下仪器

 

MPMS3磁学测量系统

MPMS3磁学测量系统

QUANTUM量子科学仪器贸易(北京)有限公司

 

快速扫描测量系统

快速扫描测量系统

北京先锋泰坦科技有限公司

 

优可测3D线扫激光传感器

优可测3D线扫激光传感器

板石智能科技(深圳)有限公司

 

MarvelScan智能反向定位蓝色激光3D扫描仪

MarvelScan智能反向定位蓝色激光3D扫描仪

海克斯康制造智能技术(青岛)有限公司

 

优可测3D线激光测量仪

优可测3D线激光测量仪

板石智能科技(深圳)有限公司

 

RigelScan智能手持式激光3D扫描仪

RigelScan智能手持式激光3D扫描仪

海克斯康制造智能技术(青岛)有限公司

 

优可测3D轮廓测量仪

优可测3D轮廓测量仪

板石智能科技(深圳)有限公司

 

AtlaScan多模式多功能量测3D扫描仪

AtlaScan多模式多功能量测3D扫描仪

海克斯康制造智能技术(青岛)有限公司

 

HyperScan智能光学追踪3D扫描仪

HyperScan智能光学追踪3D扫描仪

海克斯康制造智能技术(青岛)有限公司

 

TrackScan-Sharp 跟踪式三维扫描系统

TrackScan-Sharp 跟踪式三维扫描系统

思看科技(杭州)股份有限公司

 

基恩士 高精度三维扫描测量仪VL系列

基恩士 高精度三维扫描测量仪VL系列

基恩士(中国)有限公司

 

托能斯Radian Core-激光跟踪系统

托能斯Radian Core-激光跟踪系统

托能斯科技(上海)有限公司

 

托能斯  ATOS 5-高速三维扫描系统

托能斯 ATOS 5-高速三维扫描系统

托能斯科技(上海)有限公司

 

托能斯Faro Quantum 测量臂

托能斯Faro Quantum 测量臂

托能斯科技(上海)有限公司

 

托能斯  手持式3D扫描仪

托能斯 手持式3D扫描仪

托能斯科技(上海)有限公司

 

专用于3D扫描DMD空间光调制器

专用于3D扫描DMD空间光调制器

上海昊量光电设备有限公司

 

VDI/VDE 2634 Blatt 2-2002

标准号
VDI/VDE 2634 Blatt 2-2002
发布
2002年
发布单位
德国机械工程师协会
替代标准
VDI/VDE 2634 Blatt 2-2012
VDI/VDE 2634 Blatt 2-2011
当前最新
VDI/VDE 2634 Blatt 2-2012
 
 
被代替标准
VDI/VDE 2634 Blatt 2-2000
该指南适用于基于区域扫描的光学 3D 测量系统,其功能基于三角测量,并适用于在单个基本测量通道(“单视图”)中测量三维物体。

VDI/VDE 2634 Blatt 2-2002相似标准


推荐

激光测长机基本工作原理

第二种测量原理:激光扫描测量激光扫描测径仪系统采用激光器发出光束通过多面体扫描转镜和扫描光学系统后,形成与光轴平行连续高速扫描光束,对被置于测量区域工件进行高速扫描,并由放在工件对面的光电接收器接收,投射到光电光电接收器上光线在光束扫描工件时被遮断,所以通过分析光电接受器输出信号,可获得与工件直径有关系数据。...

激光测长机测量原理

第二种测量原理:激光扫描测量激光扫描测径仪系统采用激光器发出光束通过多面体扫描转镜和扫描光学系统后,形成与光轴平行连续高速扫描光束,对被置于测量区域工件进行高速扫描,并由放在工件对面的光电接收器接收,投射到光电光电接收器上光线在光束扫描工件时被遮断,所以通过分析光电接受器输出信号,可获得与工件直径有关系数据。...

采用光学轮廓仪有哪些优势?

  光学轮廓仪一款用于对各种精密器件表面进行亚纳米级测量检测仪器。它是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像,通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析,并获取反映器件表面质量2D、3D参数,从而实现器件表面形貌3D测量光学检测仪器。  ...

共聚焦显微镜组成

共聚焦显微镜主要由五部分组成:显微光学系统扫描装置、光源、检测器和应用软件系统。整套仪器由计算机控制,各部件之间操作切换都可在计算机操作平台界面中方便灵活地进行。  (1)显微光学系统:  显微镜是共焦检测系统常用组件,是系统成像质量核心部分。显微镜光路一般采用无限远光学系统结构,可以方便地在其中插入光学元件而不影响成像质量和测量精度。...


VDI/VDE 2634 Blatt 2-2002 中可能用到的仪器设备


谁引用了VDI/VDE 2634 Blatt 2-2002 更多引用





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号