Applicable to quality assessment for signal diodes, switching diodes and controlled avalanche diodes. Gives specific requirements (included in QC 750001 of the IECQ system), represents the blank detail specification.
IEC 60747-3-1-1986由国际电工委员会 IX-IEC 发布于 1986。
IEC 60747-3-1-1986 在中国标准分类中归属于: L41 半导体二极管,在国际标准分类中归属于: 31.080.10 二极管。
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