SJ/T 11011-2015
电子器件用纯银钎料中杂质含量 铅、铋、锌、镉、铁、镁、铝、锡、锑、磷的ICP-AES测试方法

Test method for lead, bismuth, zinc, cadmium, iron, magnesium, aluminium, tin, antimony and phosphorus in pure silver brazing for electron device by ICP-AES


说明:

  • 此图仅显示与当前标准最近的5级引用;
  • 鼠标放置在图上可以看到标题编号;
  • 此图可以通过鼠标滚轮放大或者缩小;
  • 表示标准的节点,可以拖动;
  • 绿色表示标准:SJ/T 11011-2015 , 绿色、红色表示本平台存在此标准,您可以下载或者购买,灰色表示平台不存在此标准;
  • 箭头终点方向的标准引用了起点方向的标准。

 

 

非常抱歉,我们暂时无法提供预览,您可以试试: 免费下载 SJ/T 11011-2015 前三页,或者稍后再访问。

点击下载后,生成下载文件时间比较长,请耐心等待......

 



标准号
SJ/T 11011-2015
发布日期
2015年10月10日
实施日期
2016年04月01日
废止日期
中国标准分类号
L90
国际标准分类号
31.030
发布单位
CN-SJ
引用标准
GB/T 602 GB/T 1467 GB/T 23942
被代替标准
SJ/T 11011-1996 SJ/T 11012-1996 SJ/T 11013-1996 SJ/T 11014-1996 SJ/T 11015-1996 SJ/T 11016-1996 SJ/T 11017-1996 SJ/T 11019-1996
适用范围
本标准规定了采用ICP-AES测定电子器件用纯银钎料中铅、铋、锌、镉、铁、镁、铝、锡、锑和磷的测试方法。 本标准适用于电子器件用纯银钎料中铅、铋、锌、镉、铁、镁、铝、锡、锑和磷的测定。测试范围(质量分数)铅、铋、锌、镉、铁、镁、铝、锡、锑为0.000 5 %~0.010%,磷为0.000 5%~0.003%。




Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号