ISO 19830:2015
表面化学分析. 电子能谱. X射线光电子能谱峰拟合的最低报告要求

Surface chemical analysis - Electron spectroscopies - Minimum reporting requirements for peak fitting in X-ray photoelectron spectroscopy


ISO 19830:2015 中,可能用到以下仪器

 

ISO 19830:2015

标准号
ISO 19830:2015
发布
2015年
中文版
GB/T 41073-2021 (等同采用的中文版本)
发布单位
国际标准化组织
当前最新
ISO 19830:2015
 
 
引用标准
ISO 18115-1:2013 ISO 21270:2004

ISO 19830:2015相似标准


推荐

仪EDS

可以测量光电子能量,以光电子动能为横坐标,相对强度(脉冲/s)为纵坐标可做出光电子图。从而获得试样有关信息。X射线光电子因对化学分析最有用,因此被称为化学分析电子(Electron Spectroscopy for Chemical Analysis)。      1,元素定性分析。可以根据图中出现特征线位置鉴定除H、He以外所有元素。   2,元素定量分析。...

X射线光电子( XPS)

X射线光电子因对化学分析最有用,因此被称为化学分析电子(Electron Spectroscopy for Chemical Analysis)。 1. 元素定性分析。可以根据图中出现特征线位置鉴定除H、He以外所有元素。 2. 元素定量分析。根据图中光电子线强度(光电子面积)反应原子含量或相对浓度。 3. 固体表面分析。...

赛默飞2016表面分析应用交流会:全方位呈现技术进展

中山大学 龚力  中山大学龚力带来题为《光电子谱在材料研究中应用》报告。龚力在报告中介绍了光电子谱在能源材料、环境材料、薄膜晶体管中应用,以及通过结合其他技术进行界面结构分析。华东理工大学 蒋栋  华东理工大学蒋栋带来题为《非线性最小二乘法拟合在Ni2p拟合应用》报告。...

xps原理有什么不同

 (1)固体表面的激发与检测  X射线光电子(XPS):激发源为X射线,用X射线作用于样品表面,产生光电子。通过分析光电子能量分布得到光电子。用于研究样品表面组成和结构。又称为化学分析光电子法(ESCA)。  紫外光电子(UPS):激发源为紫外光,只能激发原子电子,用于量子化学研究。  俄歇电子(AES):激发源为电子束,用于表面成分快速分析。  ...





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号