ISO 9220:1988
金属覆盖层 镀层厚度测量 扫描电子显微镜法
Metallic coatings; measurement of coating thickness; scanning electron microscope method
说明：
- 此图仅显示与当前标准最近的5级引用；
- 鼠标放置在图上可以看到标题编号；
- 此图可以通过鼠标滚轮放大或者缩小；
- 表示标准的节点，可以拖动；
- 绿色表示标准：ISO 9220:1988 ， 绿色、红色表示本平台存在此标准，您可以下载或者购买，灰色表示平台不存在此标准；
- 箭头终点方向的标准引用了起点方向的标准。
- 标准号
- ISO 9220:1988
- 发布
- 1988年
- 中文版
- GB/T 31563-2015 (修改采用的中文版本)
- 发布单位
- 国际标准化组织
- 替代标准
- ISO 9220:2022
- 当前最新
- ISO 9220:2022
- 规定了通过扫描电子显微镜检查横截面来测量金属涂层局部厚度的方法。 它具有破坏性，不确定性小于 10 % 或 0,1 /um（以较大者为准）。 它可用于厚度达几毫米的样品，但通常使用光学显微镜 (ISO 1463) 更实用。 附件a给出了横截面的制备。
推荐
镀层厚度测试检测方法
一般厚度检测需要大于1um，才能保证测量结果在误差范围之内；厚度越大，误差越小。库仑法：适合测量单层和多层金属覆盖层厚度阳极溶解库仑法，包括测量多层体系，如Cu/Ni/Cr以及合金覆盖层和合金化扩散层的厚度。不仅可以测量平面试样的覆盖层厚度，还可以测量圆柱形和线材的覆盖层厚度，尤其适合测量多层镍镀层的金属及其电位差。测量镀层的种类为Au、Ag、Zn、Cu、Ni、dNi、Cr。...
镀层厚度检测方法有哪些？
一般检测镀层厚度检测的方法有：1、金相法；2、库仑法；3、X-ray 方法适用范围 金相法： 采用金相显微镜检测横断面，以测量金属覆盖层、氧化膜层的局部厚度的方法。一般厚度检测需要大于1um，才能保证测量结果在误差范围之内;厚度越大，误差越小。 库仑法： 适合测量单层和多层金属覆盖层厚度阳极溶解库仑法，包括测量多层体系，如Cu/Ni/Cr以及合金覆盖层和合金化扩散层的厚度。...
镀层厚度测试方法、测试原理及样品要求
库仑法：适合测量单层和多层金属覆盖层厚度阳极溶解库仑法，包括测量多层体系，如Cu/Ni/Cr以及合金覆盖层和合金化扩散层的厚度。不仅可以测量平面试样的覆盖层厚度，还可以测量圆柱形和线材的覆盖层厚度，尤其适合测量多层镍镀层的金属及其电位差。测量镀层的种类为Au、Ag、Zn、Cu、Ni、dNi、Cr。 X-ray 方法：适用于测定电镀及电子线路板等行业需要分析的金属覆盖层厚度。...
测量镀层或薄膜厚度的几种常见方法
库仑法测厚，将被测金属镀层作为阳极，并置于电解液中进行电解，所溶解的金属量与通过的电流和溶解时间的乘积成比例，既与消耗的电量成比例。 【测试范围】适合测量单层和多层金属覆盖层厚度阳极溶解库仑法，包括测量多层体系，如Cu/Ni/Cr以及合金覆盖层和合金化扩散层的厚度。不仅可以测量平面试样的覆盖层厚度，还可以测量圆柱形和线材的覆盖层厚度，尤其适合测量多层镍镀层的金属及其电位差。...