ISO 11146-1:2021
激光和激光相关设备. 激光束宽度、发散角和束扩散率的试验方法. 第1部分: 无象散和简单象散束
Lasers and laser-related equipment - Test methods for laser beam widths, divergence angles and beam propagation ratios - Part 1: Stigmatic and simple astigmatic beams
ISO 11146-1:2021 发布历史
ISO 11146-1:2021由国际标准化组织 IX-ISO 发布于 2021-07-00。
ISO 11146-1:2021 在中国标准分类中归属于: L51 激光器件，在国际标准分类中归属于: 31.260 光电子学、激光设备。
ISO 11146-1:2021 激光和激光相关设备. 激光束宽度、发散角和束扩散率的试验方法. 第1部分: 无象散和简单象散束的最新版本是哪一版？
最新版本是 ISO 11146-1:2021 。
ISO 11146-1:2021 发布之时，引用了标准
- EN 61040:1992 激光辐射能量与功率测量检测器,仪表和设备
- ISO 11145 光学和光子学 - 激光和激光相关设备 - 词汇和符号
- ISO 11146-2 激光器和激光相关设备激光束宽度 发散角和光束传播比的测试方法第2部分:一般散光光束*， 2021-07-02 更新
- ISO 13694 光学和光子学 - 激光和激光相关设备 - 激光束功率（能量）密度分布的测试方法
* 在 ISO 11146-1:2021 发布之后有更新，请注意新发布标准的变化。
ISO 11146-1:2021的历代版本如下：
- 2021年 ISO 11146-1:2021 激光和激光相关设备. 激光束宽度、发散角和束扩散率的试验方法. 第1部分: 无象散和简单象散束
- 2005年 ISO 11146-1:2005 激光和激光相关设备.激光束宽度、发散角和束扩散率的试验方法.第1部分:无象散和简单象散束
本文件规定了激光束的光束宽度（直径）、发散角和光束传播比的测量方法。 本文件仅适用于像散光束和简单像散光束。 如果光束类型未知，并且对于一般像散光束，则适用 ISO 11146-2。
采用 ISO 11146-1 的发行版本有：
- DS/EN ISO 11146-1:2005 激光器和激光相关设备 激光束宽度、发散角和光束传播比的测试方法 第1部分：散光和简单散光光束（ISO 11146-1:2005）
- DS/EN ISO 11146-1:2021 激光器及激光相关设备《激光束宽度、发散角和光束传播比的测试方法》第1部分：散光和简单散光光束（ISO 11146-1:2021）
- EN ISO 11146-1:2005 激光和激光相关设备.激光束宽度,发散角和束扩散率的试验方法.第1部分:无象散和简单象散束 ISO 11146-1-2005
- EN ISO 11146-1:2021 激光和激光相关设备.激光束宽度,发散角和束扩散率的试验方法.第1部分:无象散和简单象散束
- KS B ISO 11146-1-2020 激光和激光相关设备 - 激光束宽度 发散角和光束传播比的测试方法 - 第1部分:光栅和简单的散光光束
- KS B ISO 11146-1:2006 激光和激光相关设备.激光束宽度、发散角和束扩散率的试验方法.第1部分:无象散和简单象散束
- KS B ISO 11146-1:2015 激光和激光相关设备 激光束宽度、发散角和束扩散率的试验方法 第1部分：无象散和简单象散束
- KS B ISO 11146-1:2020 激光和激光相关设备 - 激光束宽度 发散角和光束传播比的测试方法 - 第1部分:光栅和简单的散光光束
- 标准号
- ISO 11146-1:2021
- 发布
- 2021年
- 发布单位
- 国际标准化组织
- 当前最新
- ISO 11146-1:2021
- 引用标准
- EN 61040:1992 ISO 11145 ISO 11146-2 ISO 13694
ISO 11146-1:2021相似标准
推荐
X射线自由电子激光原理和生物分子结构测定研究中应用
为了获得更广泛的应用和更精确的结果，未来 XFEL的技术突破将集中在这些方面： (1)提高激光束流能量，同时尽可能降低辐射损伤，提高单颗粒散射的分辨率极限； (2)控制样品均一性。生物样品具有一定的柔性，这是其实现功能的基础，但是也为数据分析造成了一定困难。...
激光必备小知识
在推荐电压范围的低端运行激光模块也将有助于延长激光的寿命。 激光发散角指定光束在一定距离内的散布量。我们所有的光束发散规格均为全角度值。电磁束的束发散度是束直径或半径随距发出电磁束的光学孔径或天线孔径的距离而增加的角度度量。该术语仅在“远场”中有用，远离光束的任何焦点。然而，实际上，取决于孔径直径和工作波长，远场可以在物理上接近辐射孔径开始。 ...
扫描电镜特殊类型样品制备系列 04——磁性材料
扫描电镜的物镜和扫描线圈都是通过电磁场控制的，磁性样品有磁场存在，会造成磁场叠加，叠加的磁场可能不均匀，使得物镜磁场偏离轴心对称，导致束斑变形，造成象散。叠加的磁场影响扫描线圈的交变磁场，影响扫描区域的大小，造成放大倍数不准。解决方案象散矫正所有扫描电镜都会提供调整象散的功能。一般情况下，扫描电镜可以存储大多数样品有效的标准值，但部分设备要求用户每次都要调整象散。...
聚焦离子束在LiNbO_3及KTP等晶体上的亚微米刻蚀研究
正聚焦离子束(focused ion beam,简写FIB)是一个微纳加工和观察分析设备。在强电场下金属离子溢出液态离子源,形成束流,经光圈限束、加速、聚焦、象散校正、偏转,打到样品指定点上。利用其溅射效应,FIB可用于样品表面亚微米尺寸的刻蚀,控制其扫描路径可以在无掩模下刻蚀任意正聚焦离子束(focused ion beam,简写FIB)是一个微纳加工和观察分析设备。...