低于定量和检测限的排放测量结果的处理 是非强制性国家标准,您可以免费下载预览页
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X射线荧光光谱分析(XRF)原理一级X射线照射到待分析组分上,待分析组分中原子内层电子激发后,外层电子跃迁至内层导致产生次级特征X射线,通过对次级特征X射线的检测识别元素并定量。按照特征X射线检测方法,可分为波长色散(WD-XRF)和能量色散(ED-XRF)两种类型波长色散和能量色散的比较分析:XRF分析颗粒物中元素的特点直接测量滤膜,不需要前处理。...
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