共找到 3191 条与 集成电路、微电子学 相关的标准,共 213 页
本标准规定了薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片的结构尺寸、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存。 本标准适用于薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片(以下简称基片)。
Alumina ceramic substrates for thin film integratedcircuits
本标准规定了厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片的结构尺寸、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存。 本标准适用于厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片,片状元件用氧化铝陶瓷基片亦可参照使用。(以下简称基片)。
Alumina ceramic substrates for thick film integratedcircuits
本标准规定了半导体集成电路TTL电路PAL系列的品种(以下简称器件)的名称、引出端排列、功能框图、逻辑图和主要特性(包括输入、输出特性和主要电参数)。 器件的质量评定应符合器件有关详细规范的规定。 生产(研制)或选用器件时,应符合本标准的规定。 若无特殊说明,本标准涉及的逻辑均为正逻辑。
Series and products for TTL semiconductor integrated circuits-Products of series PAL
本标准规定了半导体集成电路(以下简称器件)的外形尺寸。 本标准适用于器件的成品尺寸的检验。
Qutline dimensions of semiconductor integrated circuits
本规范规定了编制半导体集成电路双极熔丝式可编程只读存储器(以下简称器件)详细规范的基本原则。
Blank detail specification for semiconductor integrated circuit fusible-link programmable bipolar readonly memories
本标准规定了半导体集成电路采样/保持放大器(以下简称器件)电参数测试方法的基本原理。 本标准适用于半导体集成电路采样/保持放大器的电参数测试。
General principles of measuring methods of Sample/Hold amplifiers for semiconductor integrated circuits
本标准规定了半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器(以下简称器件)测试方法的基本原理。 本标准适用于半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器的电参数测试。
General principles of measuring methods of V/F and F/V converters for semiconductor integrated circuits
本标准规定了半导体集成电路封装在生产制造、工程应用和产品交验等方面使用的基本术语。 本标准适用于与半导体集成电路封装相关的生产、科研、教学和贸易等方面的应用。
Terminology of packages for semiconductor integrated circuits
本规范规定了半导体集成电路塑料双列封装冲制型引线框架(以下简称引线框架)的技术要求及检验规则。 本规范适用于双列(DIP)冲制型引线框架,单列冲制型引线框架亦可参照使用。
Semiconductor integrated circuits Specification for stamped leadframes of plastic DIP
本标准规定了0.75~3200kW内燃机电站传导干扰电压的测量方法及允许值。 本标准适用于以内燃机为原动机驱动工频、中频、双频和直流发电机的内燃机电站(以下简称电站,含汽车电站、挂车电站、移动式发电机组、固定式发电机组)。
Limits and methods of measurement of radio interference characteristics of electric power plant with internal combustion engines.Conducted interference
本标准规定了半导体集成电路数字锁相环(以下简称器件或数字锁相环)电参数测试方法的基本原理。
General principles of measuring methods of digital phase-locked loop for semiconductor integrated circuits
本标准规定了半导体集成电路模拟锁相环(以下简称器件或模拟锁相环)电参数测试方法的基本原理。
General principles of measuring methods of analogue phase-loop for semiconductor integrated circuits
本标准规定了半导体集成电路时基电路(以下简称器件或时基电路)电参数测试方法的基本原理
General principles of measuring methods of timer circuits for semiconductor integrated circuits
本标准规定了半导体集成电路模拟乘法器(以下简称器件或乘法器)测试方法的基本原理。
General principles of measuring methods of analogue multiplier for semiconductor integrated circuits
本标准规定了MOS和结型场效应半导体集成电路模拟开关(以下简称器件或模拟开关)电参数测试的基本原理。
General principles of measuring methods of analogue switches for semiconductor integrated circuits
本标准规定了半导体集成电路数字交换系统接口电路(以下简称器件)的引出端排列、功能框图和主要电参数。器件的质量评定应符合器件详细规范的规定。 本标准适用于生产(研制)或使用器件时的选型。
Series and products of communication circuits for semiconductor integrated circuits-Products of digital switching system interface circuits
本标准规定了半导体集成电路频率合成器(以下简称器件)的引出端排列、功能框图和主要电参数。器件的质量评定应符合器件详细规范的规定。 本标准适用于生产(研制)或使用器件时的选型。
Series and products of communication circuits for semiconductor integrated circuits-Products of frequency synthesizers
本标准规定了半导体集成电路电话电路(以下简称器件)的引出端排列、功能框图和主要电参数。器件的质量评定应符合器件详细规范的规定。 本标准适用于生产(研制)或使用器件时的选型。
Series and products of communication circuits for semiconductor integrated circuits-Products of telephone circuits
本标准规定了半导体集成电路双音多频(DTMF)电路(以下简称器件)的引出端排列、功能框图和主要电参数。器件的质量评定应符合器件详细规范的规定。 本标准适用于生产(研制)或使用器件时的选型。
Series and products of communication circuits for semiconductor integrated circuits-Products of dual-tone multi-frequency circuits
本标准规定了半导体集成电路模拟开关阵列(以下简称器件)的引出端排列、功能框图和主要电参数。器件的质量评定应符合器件详细规范的规定。 本标准适用于生产(研制)或使用器件时的选型。
Series and products of communication circuits for semiconductor integrated circuits-Products of analogue switch arraies
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