31.200 集成电路、微电子学 标准查询与下载



共找到 3191 条与 集成电路、微电子学 相关的标准,共 213

本标准规定了薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片的结构尺寸、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存。 本标准适用于薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片(以下简称基片)。

Alumina ceramic substrates for thin film integratedcircuits

ICS
31.200
CCS
L57
发布
1993-09-03
实施
1993-12-01

本标准规定了厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片的结构尺寸、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存。 本标准适用于厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片,片状元件用氧化铝陶瓷基片亦可参照使用。(以下简称基片)。

Alumina ceramic substrates for thick film integratedcircuits

ICS
31.200
CCS
L57
发布
1993-09-03
实施
1993-12-01

本标准规定了半导体集成电路TTL电路PAL系列的品种(以下简称器件)的名称、引出端排列、功能框图、逻辑图和主要特性(包括输入、输出特性和主要电参数)。 器件的质量评定应符合器件有关详细规范的规定。 生产(研制)或选用器件时,应符合本标准的规定。 若无特殊说明,本标准涉及的逻辑均为正逻辑。

Series and products for TTL semiconductor integrated circuits-Products of series PAL

ICS
31.200
CCS
L56
发布
1993-02-03
实施
1993-08-01

本标准规定了半导体集成电路(以下简称器件)的外形尺寸。 本标准适用于器件的成品尺寸的检验。

Qutline dimensions of semiconductor integrated circuits

ICS
31.200
CCS
L55
发布
1993-01-21
实施
1993-08-01

本规范规定了编制半导体集成电路双极熔丝式可编程只读存储器(以下简称器件)详细规范的基本原则。

Blank detail specification for semiconductor integrated circuit fusible-link programmable bipolar readonly memories

ICS
31.200
CCS
L56
发布
1993-01-21
实施
1993-08-01

本标准规定了半导体集成电路采样/保持放大器(以下简称器件)电参数测试方法的基本原理。 本标准适用于半导体集成电路采样/保持放大器的电参数测试。

General principles of measuring methods of Sample/Hold amplifiers for semiconductor integrated circuits

ICS
31.200
CCS
L56
发布
1993-01-21
实施
1993-08-01

本标准规定了半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器(以下简称器件)测试方法的基本原理。 本标准适用于半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器的电参数测试。

General principles of measuring methods of V/F and F/V converters for semiconductor integrated circuits

ICS
31.200
CCS
L56
发布
1993-01-21
实施
1993-08-01

本标准规定了半导体集成电路封装在生产制造、工程应用和产品交验等方面使用的基本术语。 本标准适用于与半导体集成电路封装相关的生产、科研、教学和贸易等方面的应用。

Terminology of packages for semiconductor integrated circuits

ICS
31.200
CCS
L55
发布
1993-01-21
实施
1993-08-01

本规范规定了半导体集成电路塑料双列封装冲制型引线框架(以下简称引线框架)的技术要求及检验规则。 本规范适用于双列(DIP)冲制型引线框架,单列冲制型引线框架亦可参照使用。

Semiconductor integrated circuits Specification for stamped leadframes of plastic DIP

ICS
31.200
CCS
L55
发布
1993-01-21
实施
1993-08-01

本标准规定了0.75~3200kW内燃机电站传导干扰电压的测量方法及允许值。 本标准适用于以内燃机为原动机驱动工频、中频、双频和直流发电机的内燃机电站(以下简称电站,含汽车电站、挂车电站、移动式发电机组、固定式发电机组)。

Limits and methods of measurement of radio interference characteristics of electric power plant with internal combustion engines.Conducted interference

ICS
31.200
CCS
K52
发布
1992-12-28
实施
1993-08-01

本标准规定了半导体集成电路数字锁相环(以下简称器件或数字锁相环)电参数测试方法的基本原理。

General principles of measuring methods of digital phase-locked loop for semiconductor integrated circuits

ICS
31.200
CCS
L55
发布
1992-12-17
实施
1993-08-01

本标准规定了半导体集成电路模拟锁相环(以下简称器件或模拟锁相环)电参数测试方法的基本原理。

General principles of measuring methods of analogue phase-loop for semiconductor integrated circuits

ICS
31.200
CCS
L55
发布
1992-12-17
实施
1993-08-01

本标准规定了半导体集成电路时基电路(以下简称器件或时基电路)电参数测试方法的基本原理

General principles of measuring methods of timer circuits for semiconductor integrated circuits

ICS
31.200
CCS
L55
发布
1992-12-17
实施
1993-08-01

本标准规定了半导体集成电路模拟乘法器(以下简称器件或乘法器)测试方法的基本原理。

General principles of measuring methods of analogue multiplier for semiconductor integrated circuits

ICS
31.200
CCS
L55
发布
1992-12-17
实施
1993-08-01

本标准规定了MOS和结型场效应半导体集成电路模拟开关(以下简称器件或模拟开关)电参数测试的基本原理。

General principles of measuring methods of analogue switches for semiconductor integrated circuits

ICS
31.200
CCS
L55
发布
1992-12-17
实施
1993-08-01

本标准规定了半导体集成电路数字交换系统接口电路(以下简称器件)的引出端排列、功能框图和主要电参数。器件的质量评定应符合器件详细规范的规定。 本标准适用于生产(研制)或使用器件时的选型。

Series and products of communication circuits for semiconductor integrated circuits-Products of digital switching system interface circuits

ICS
31.200
CCS
L56
发布
1992-12-17
实施
1993-08-01

本标准规定了半导体集成电路频率合成器(以下简称器件)的引出端排列、功能框图和主要电参数。器件的质量评定应符合器件详细规范的规定。 本标准适用于生产(研制)或使用器件时的选型。

Series and products of communication circuits for semiconductor integrated circuits-Products of frequency synthesizers

ICS
31.200
CCS
L56
发布
1992-12-17
实施
1993-08-01

本标准规定了半导体集成电路电话电路(以下简称器件)的引出端排列、功能框图和主要电参数。器件的质量评定应符合器件详细规范的规定。 本标准适用于生产(研制)或使用器件时的选型。

Series and products of communication circuits for semiconductor integrated circuits-Products of telephone circuits

ICS
31.200
CCS
L56
发布
1992-12-17
实施
1993-08-01

本标准规定了半导体集成电路双音多频(DTMF)电路(以下简称器件)的引出端排列、功能框图和主要电参数。器件的质量评定应符合器件详细规范的规定。 本标准适用于生产(研制)或使用器件时的选型。

Series and products of communication circuits for semiconductor integrated circuits-Products of dual-tone multi-frequency circuits

ICS
31.200
CCS
L56
发布
1992-12-17
实施
1993-08-01

本标准规定了半导体集成电路模拟开关阵列(以下简称器件)的引出端排列、功能框图和主要电参数。器件的质量评定应符合器件详细规范的规定。 本标准适用于生产(研制)或使用器件时的选型。

Series and products of communication circuits for semiconductor integrated circuits-Products of analogue switch arraies

ICS
31.200
CCS
L56
发布
1992-12-17
实施
1993-08-01



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