共找到 548 条与 金属物理性能试验方法 相关的标准,共 37 页
本文件规定了两种流速测定方法,用于测定一定数量的加热后的粉末混合料通过一个固定孔径的漏斗的时间(流速),这种粉末主要是适用于温压的钢铁粉末。方法A使用孔径为2.5 mm 的漏斗,样品量为50g,主要依据ISO4490 中规定的方法。该方法只适用于在加热的条件下能自由流过2.5 mm 孔径的粉末混合料。方法B使用孔径为5 mm 的漏斗,样品量为150g。这两种方法的试验温度范围均为60 ℃~180 ℃ ,相关方协商确定后可选择其中一种。
Metallic powders—Determination of apparent density and flow rate at elevated temperatures—Part 2: Determination of flow rate at elevated temperatures
本文件规定了采用光学反射法测试硅片表面二氧化硅薄膜、多品硅薄膜厚度的方法。 本文件适用于测试硅片表面生长的二氧化硅浅膜和多唱硅薄膜的厚度,也适用于所有光滑的.透明或半透明的、低吸收系数的薄膜厚度的测试,如非晶硅、氮化硅、类金刚石镀膜、.光刻胶等表面薄膜。测试范围为15 nm一105 nm 。
Test method for thickness of films on silicon wafer surface—Optical reflection method
本文件规定了电容-电压法测试硅外延层载流子浓度的方法,包括汞探针电容-电压法和无接触电容-电压法。 本文件适用于同质硅外延层载流子浓度的测试,测试范围为4×1013 cm-3 ~8×1016 cm-3 ,其中硅外延层的厚度大于测试偏压下耗尽层深度的两倍。硅单晶抛光片和同质碳化硅外延片载流子浓度的测试也可以参照本文件进行,其中无接触电容-电压法不适用于同质碳化硅外延片载流子浓度的测试。
Test method for carrier concentration of silicon epitaxial layers—Capacitance-voltage method
本文件规定了用直排四探针法和直流两探针法测试硅单晶电阻率的方法。 本文件适用于硅单晶电阻率的测试,其中直排四探针法可测试的p 型硅单晶电阻率范围为7×10 Ω·cm~8×103 Ω·cm,n 型硅单晶电阻率范围为7×10-4 Ω·cm~1.5×104 Ω·cm;直流两探针法适用于测试截面积均匀的圆形、方形或矩形硅单晶的电阻率,测试范围为1×10-3 Ω·cm~1×-4 104 Ω·cm,样品长度与截面最大尺寸之比不小于3∶1。硅单晶其他范围电阻率的测试可参照本文件进行。
Test method for measuring resistivity of monocrystal silicon—In-line four-point probe and direct current two-point probe method
本标准规定了纳米材料电阻率的接触式测量方法,包括测量原理、仪器设备、测量条件、测量步骤、影响因素等。本标准中静态四探针法(A法)适用于纳米薄膜、纳米浆料和纳米粉体的电阻率测量;动态四探针法(B法)、动态四线两电极法(C法)适用于纳米粉体电阻率的测量。
Nanotechnology—Contacting methods for measuring the resistivity of nanomaterials—General rules
本文件适用于非晶合金带材在频率不高于400Hz下的交流磁性能测量。 本文件给出了用单片测试仪测量非晶合金带材磁性能的基本原理和技术要求。 本文件规定的单片测试仪适用于在规定的频率和磁极化强度峰值且感应电压为正弦状态下,对各种类型的非晶合金带材制成的试样的交流磁性能进行测量。测量应在环境温度(
Methods of measurement of amorphous and nanocrystalline alloys—Part 3: AC magnetic properties of Fe-based amorphous strip using a single sheet specimen
本文件规定了振实密度的测定方法,即粉末在规定条件下在容器中被振实后的密度。2 原理
Metallic powders—Determination of tap density
本标准规定了无应变、无外加磁场条件下铜(Cu)、铜-镍(Cu -Ni)、铜/铜-镍(Cu/Cu -Ni)基体和铝(Al)基体的铌-钛(Nb -Ti)和铌三锡(Nb3Sn)复合超导体剩余电阻比(RRR)的测试方法。本标准适用于2
Residual resistance ratio measurement—Residual resistance ratio of Nb-Ti and Nb3Sn composite superconductors
本标准规定了砷化锋单品位错密度的测试方法。本标准适用于4100和(111)面砷化锋单唱位错密度的测试,测试范围为0 cm 一100 000 cm“。
Test method for dislocation density of monocrystal gallium arsenide
本标准规定了锆管探伤用对比试样人工缺陷(人工槽/通孔)尺寸的复型及显微测量方法。 本标准适用于锆管超声、涡流等无损探检测对比试样上人工槽/通孔尺寸的测量。 其他金属对比试样中的类似人工缺陷尺寸的测量也可参照执行。
Test method for artificial defect sizes of zirconium tube flaw detection comparison samples
本标准规定了在工频条件下,采用 H 线圈测量电工钢带 (片 )单片试样的磁场强度,并通过单片磁导计测试电工钢比总损耗、磁极化强度及比视在功率的测试方法。 本标准适用于晶粒取向或晶粒无取向电工钢带(片)单片试样磁性能的检测。
Measurement of the magnetic properties of electrical steels by means of a single sheet tester—H-coil method
本标准规定了金属材料高温蒸汽氧化试验方法的术语和定义、试验原理、试验装置及条件、试样、试验步骤、结果分析和试验报告。 本标准适用于金属材料在高温蒸汽条件下的氧化试验。
Test method for oxidation of metallic materials exposed in high-temperature steam
本标准规定了镁及镁合金铸锭的外观检查、化学成分.纯净度检验和试验报告等内容。本标准适用于镁及镁合金铸锭的纯净度检验。
Testing method for cleanliness of magnesium and magnesium alloy ingots
本标准规定了钞单晶位错密度的测试方法。 本标准适用于(111》、 (100}和人1113)面钞单唱位错密度的测试 ,测试范围为0 cm “一100 000 cm “。
Test method for dislocation density of monocrystal germanium
本标准规定了真空恬件用铬铝合金粉.吸气用任铝合金环件和片件.吸气用锋铝合金复合带材、释示吸气用钛汞-钳铝合金复合带材.室温吸气用钳石墨材料和制品等非燕散型吸气材料及制品的吸气速率和吸气量的检测方法.检测结果的处理及试验报告。本标准适用于真空恬件用铬铝合金粉.吸气用锋铝合金环件和片件,吸气用锋铝合金复合带材、释示吸气用钛汞-钳铝合金复合带材.室温吸气用钳石墨材料和制品等非燕散型吸气材料及制品的吸气速率和吸气量的测定。
Test methods for gas absorption characteristic of non-evaporation gettering materials and products
本标准规定了金相法测定钛合金β转变温度的原理、试样、仪器设备、试验步骤、试验结果的判定、和试验报告。本标准适用于采用金相法测定α型、αβ型和亚稳定β型钛合金的β转变温度。
Determination of β transus temperature of titanium alloys
Methods of measurement of magnetic properties of electrical steel strip and sheet at medium frequencies
Standard practice for de-agglomeration of refractory metal powders and their compounds prior to particle size analysis
Methods of measurement of resistivity,density and stacking factor of electrical steel strip and sheet
Metallic materials—Resistivity measurement method
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