返回 日本电子JED-2300/230... 返回 日本电子JED-2300/230... 
JED-2300/2300F 能谱仪
JED-2300/2300F Analysis Station是以“图像观察和分析“ 为基本理念的TEM/EDS集成系统。通过与SEM的马达驱动样品台联动使用，可以进行大范围的观察和分析。 EDS通过检测被电子束激发出的样品特征X射线，确定样品含有的元素及成分比，可以进行微区的点分析、线分析及面分析。
JED-2300/2300F Analysis Station是以“图像观察和分析“ 为基本理念的TEM/EDS集成系统，通过与SEM的马达驱动样品台联动使用，可以进行大范围的观察和分析。EDS通过检测被电子束激发出的样品的特征X射线，确定样品含有的元素及成分比，可以进行微区的点分析、线分析及面分析。
JSM-6510/LA, JSM-6610A/LA 系列
可以在SEM图像上指定分析位置，开始EDS分析。
VID
将采集的X射线谱图和Visual PeakID（VID）合成的谱图进行比较，定性结果可以通过视觉、数值判断。
Play Back
Play Back (回放) 功能
用JEOL制造的EDS采集的元素面分布图，不仅保存了每一帧中各个像素点的谱图，还对每一帧中电子束形成的图像进行了存储。利用Play back功能，可以进行多角度的分析如观测谱图等随时间的变化等。测试后数据能够回放，可以观察到样品按时间顺序发生的变化，这是至今为止无法实现的。此外，利用Play Back功能还可以截取任意指定的画面。
Smile Station™ 2
Smile Station™2功能通过在多个视野上自动进行分析，生成SEM和元素面分布图的无缝蒙太奇图像，也可以在取得的视野上进行连续的元素面分布和点分析等。（zl号4175597）
Dry SD 检测器
Dry SD 检测器（SDD检测器）与传统的EDS检测器不同，不需要液氮制冷。使用快速简单，同时实现了高分辨率和高计数率处理。
老型号：
JED-2300T Analysis Station元素分析系统，从观察到分析能够进行无缝分析。
AnalysisStation
JED-2300T Analysis Station是以“图像观察和分析”为基本理念的TEM/EDS集成系统。在分析数据过程中，自动采集电镜主机的倍率、加速电压等参数，进行数据管理。
硅漂移检测器（以下简称SDD）的检测面积有30mm2、60mm2和100mm2三种。检测面积越大，检测灵敏度越高。JEM-ARM200F（HRP）配合使用DRY
SD100GV检测器（检测面积为100mm2），可同时实现大受光面积和高分辨率， 可以清楚地识别B、C、N、O等轻元素。
Dry SD100GV
DRYSD100GV检测器的灵敏度极高，测试Au催化剂颗粒只需一分钟。
| 上图: 样品 负载在Ti氧化物上的Au催化剂颗粒 装置: JEM-ARM200F + DRYSD100GV检测器 测试时间: 大约1分钟 束流电流: 1nA 像素数: 256ｘ256像素 |
Sr和Ti的原子列被清楚地分离开来。
| 上图: 样品 SrTiO3<100> 装置: JEM-ARM200F + DRYSD100GV检测器 测试时间: 大约10分钟 束流电流: 1nA 像素数: 128ｘ128像素 |
用JEOL制造的EDS采集的元素面分布图，不仅保存了每一帧中各个像素点的谱图，还对每一帧中电子束形成的图像进行了存储。利用play
back功能，可以进行多角度的分析如观测谱图等随时间的变化等。测试后数据能够回放，可以观察到样品按时间顺序发生的变化，这是至今为止无法实现的。此外，利用play
back功能还可以截取任意指定的画面。
| 上图: 装置 JEM-2800+DRYSD100GV检测器 样品: 岩盐 像素数: 128ｘ128 提取的帧号: 398帧s |
参考成交价格：