博曼（Bowman）XRF镀层测厚仪 L系列技术特点

【技术特点】-- 博曼（Bowman）XRF镀层测厚仪 L系列

博曼L系列产品概述：

L系列是博曼的通用机型。该系列将更大的样品室和更大的XY平台相结合。对于大的镀件，L系列是必备品。大样品台和XY行程可实现大镀件的多点测量。 封闭式样品仓可容纳12“x22“x24“（LxWxH）的样品。XY平台的行程为13“x10“。

标准配置包括一个4位置多准直器组件，以及一个可在凹陷区域进行测量的变焦相机。 与其他型号一样，准直器尺寸和焦距可根据不同的客户应用进行定制。 包括可编程的XY平台，为了满足更大样品测测量，XY平台可以移除。探测器采用硅PIN半导体探测器，可升级为高性能SDD探测器。

博曼L系列可满足以下类型用户的需求：

- 样品的长宽高分别超过12“但小于24“

- 需容纳多个样品进行自动化多点测量

- 可扩展到更大尺寸的样品，用于未来的项目

- 符合IPC-4552A

【技术特点对用户带来的好处】-- 博曼（Bowman）XRF镀层测厚仪 L系列

【典型应用举例】-- 博曼（Bowman）XRF镀层测厚仪 L系列