博曼（Bowman）XRF镀层测厚仪 W系列

博曼进口 X射线荧光测厚仪

产品型号：W系列

品牌：博曼

产品产地：美国

产品类型：进口

原制造商：博曼

状态：在售

厂商指导价格：未提供

英文名称：W系列

上市时间： 2016-05-20

优点： W系列采用多毛细管光学机构，可将X射线聚焦到7.5μmFWHM，是目前世界上使用XRF技术进行镀层厚度分析的最小光斑尺寸。150倍放大相机用于观察样品上的细微特征;同时配有低倍数相机，用于观察样品的宏观成像。博曼的双摄像头系统可让操作人员看到整个样品，点击图像，通过高倍放大相机进行放大，实现测量点的精确定位和测量。