博曼W系列产品参数:
类别 | 参数 |
元素测量范围: X射线管: 探测器: 视频放大倍率: 分析层数及元素数: 滤波器: 焦距: 数字脉冲器: 计算机: 相机: 电源: 重量: 可编程XY平台: 样品仓尺寸: 外形尺寸: 其他新特征: | 13号铝元素到92号铀元素 50 W钼钯射线管(可选铬和钨)7.5um毛细管光学结构 135eV分辨率的大窗口硅漂移探测器 20“屏幕上的150倍微观摄像头(最多600倍数码变焦) 10-20倍宏观摄像头 5层,每层可分析10种元素,成分分析最多可分析25种元素 4位置一次滤波器 可变焦 4096 多通道数字处理器,自动死时间和逃逸峰校正 英特尔, 酷睿 i5 3470 处理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 内存, 微软 Windows 10 专业版, 64位 1 / 4“CMOS-1280×720 VGA分辨率 150W,100-240V,频率范围为47Hz至63Hz 190kg XYZ行程: 300mm (11.8″) x 400mm (15.7″) x 100mm (3.9″) XY桌面: 305mm (12″) x 406mm (16″) X轴准确度: 2.5um (100u″) X轴精确度: 1um (40u″) Y轴准确度: 3um (120u″) Y轴精确度: 1um (40u″) Z轴准确度: 1.25um (50u″) Z轴精确度: 1um (40u″) 高度:735mm(29“),宽度:914mm(36“),深度:100mm(4“) 高度:940mm(37“),宽度:990mm(39“),深度:787mm(31“) Z 轴防撞阵列 自动聚焦和自动镭射 模式识别 先进的自定义数据调用 |
关于美国博曼:
美国博曼(Bowman)是高精度台式镀层测厚仪供应商,拥有近40年的行业经验。博曼XRF系统搭载拥有自主知识产权的镀层检测技术和先进的软件系统,可精准高效地分析金属镀件中元素厚度和成分。博曼XRF系统可同时测量包含基材在内的五层元素,其中任何两层元素可以是合金。同时,博曼XRF系统也可以测量高熵合金(HEAs)。