博曼(Bowman)XRF镀...
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博曼W系列产品参数:

类别

参数

元素测量范围:

X射线管:

探测器:

视频放大倍率:


分析层数及元素数:

滤波器:

焦距:

数字脉冲器:

计算机:


相机:

电源:

重量:

可编程XY平台:





样品仓尺寸:

外形尺寸:

其他新特征:

13号铝元素到92号铀元素

50 W钼钯射线管(可选铬和钨)7.5um毛细管光学结构

135eV分辨率的大窗口硅漂移探测器

20“屏幕上的150倍微观摄像头(最多600倍数码变焦)

10-20倍宏观摄像头

5层,每层可分析10种元素,成分分析最多可分析25种元素

4位置一次滤波器

可变焦

4096 多通道数字处理器,自动死时间和逃逸峰校正

英特尔, 酷睿 i5 3470 处理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 内存, 微软 Windows 10 专业版, 64位

1 / 4“CMOS-1280×720 VGA分辨率

150W,100-240V,频率范围为47Hz至63Hz

190kg

XYZ行程: 300mm (11.8″) x 400mm (15.7″) x 100mm (3.9″)

XY桌面: 305mm (12″) x 406mm (16″)

X轴准确度: 2.5um (100u″) X轴精确度: 1um (40u″)

Y轴准确度: 3um (120u″) Y轴精确度: 1um (40u″)

Z轴准确度: 1.25um (50u″) Z轴精确度: 1um (40u″)

高度:735mm(29“),宽度:914mm(36“),深度:100mm(4“)

高度:940mm(37“),宽度:990mm(39“),深度:787mm(31“)

Z 轴防撞阵列

自动聚焦和自动镭射

模式识别

先进的自定义数据调用


关于美国博曼:

美国博曼(Bowman)是高精度台式镀层测厚仪供应商,拥有近40年的行业经验。博曼XRF系统搭载拥有自主知识产权的镀层检测技术和先进的软件系统,可精准高效地分析金属镀件中元素厚度和成分。博曼XRF系统可同时测量包含基材在内的五层元素,其中任何两层元素可以是合金。同时,博曼XRF系统也可以测量高熵合金(HEAs)。


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