M1 MISTRAL台式微区X...
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    分析的元素范围：原子序数22号（钛）以上的所有元素

    分析的样品类型：各种不同的材料，如金属、合金、金属镀层包括多层镀层样品

    样品尺寸zei大可达100×100×100mm

    M1 MISTRAL根据所配探测器不同分为二种型号：正比计数器（PC）型和高分辨的硅漂移探测器（SDD）型

参数

PC型

SOD型

        激发源高性能微焦斑光管，W靶，玻璃窗高性能微焦斑光管，W靶，玻璃窗
电压及功率40 kV, 40 W50 kV, 50 W
探测器大面积正比计数器，1100 mm2感应面积电制冷高性能XFlash 硅漂移探测器，30 mm2感应面积，对Mn-Ka能量分辨率小于150 eV
光斑尺寸准直器交换器，0.3 mm或以上 准直器交换器，0.5 mm或以上
样品观察高分辨彩色摄像系统，放大倍数20 ~ 40倍高分辨彩色摄像系统，放大倍数20 ~ 40倍
样品台马达驱动Z方向样品台，自动对焦。选项：马达驱动X-Y-Z样品台，自动对焦，便捷进样功能马达驱动X-Y-Z样品台，自动对焦，便捷进样功能
定量分析块状样品：基于标样的经验系数法模型和无标样模型块状样品：基于标样的经验系数法模型和无标样模型
镀层分析：基本参数法模型镀层分析：基本参数法模型
电源110 ~ 230 V AC; 50/60 Hz, zei大功率100 W 110 ~ 230 V AC; 50/60 Hz, zei大功率120 W
尺寸（宽x深x高）550 x 700 x 430 mm550 x 700 x 430 mm
重量46 kg 50 kg

      

    XSpect 软件包提供以下功能：

  •             仪器控制、数据采集和处理

  •             谱峰识别

  •             定量分析，采用无标样法和基于标样的经验系数法

  •             镀层样品分析，可分析镀层厚度和成分

  •             采用基本参数法编辑特定镀层的分析方法

  •             报告输出

技术细节

激发源

  • W 靶或 Rh靶的高性能微聚焦光管

最大样本大小和重量

  • 48 x 49 x 20 cm3

  • 高达 1.8 Kg

探测器

  • Peltier 冷却，30 mm2 高性能硅漂移探测器，<150 eV 能量分辨率，在 Mn Ka

样品台最大行驶范围

  • 高达 200 mm x 175 mm x 80 mm（用于带自动对焦和Easy Load功能的电动 XYZ 样品台）

多种元素

  • 默认值：从 Ti （Z=22）W 靶 

  • 可选：从 Al （Z=13） Rh靶

仪器尺寸（W x D x H）

  • 550 mm x 680 mm x 430 mm

光斑大小

  • 0.1 mm 至 1.5 mm 的准直器自动切换



XSpect Pro 分析软件套件

  • 仪器控制、数据采集和管理

  • 用户可选触摸屏界面

  • 样品台控制和编程

  • 金属多层镀层厚度分析

  • 定量成分分析、无标准和基于标准的经验模型

  • 具有自动峰值识别的谱线查看功能

  • 统计过程控制 （SPC） 趋势线和数据

  • 报告生成器

  • 结果存档


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