BS ISO 13084:2018
表面化学分析 二次离子质谱分析 飞行时间二次离子质谱仪的质量标度校准
Surface chemical analysis. Secondary ion mass spectrometry. Calibration of the mass scale for a time-of-flight secondary ion mass spectrometer
BS ISO 13084:2018 中，可能用到以下仪器设备
- 标准号
- BS ISO 13084:2018
- 发布
- 2018年
- 发布单位
- 英国标准学会
- 当前最新
- BS ISO 13084:2018
- 这个标准是关于什么的？本文件规定了一种优化用于一般分析目的的飞行时间二次离子质谱 (SIMS) 仪器质量校准精度的方法。它仅适用于飞行时间仪器，但不限于任何特定的仪器设计。为可以使用此程序优化的一些仪器参数以及适合校准质量标度以获得最佳质量精度的通用峰类型提供了指导
BS ISO 13084:2018相似标准
推荐
实验室分析仪器--质谱仪器介绍
随着二次离子质谱仪的诞生、发展和成熟，出现了由不同分析器与二次离子源组成的四极杆二次离子质谱仪（Q-SIMS）、双聚焦二次离子质谱仪（DF-SIMS）和飞行时间二次离子质谱仪（tOF-SMS）。它们以其高质量分辨率、高检测灵敏度、低检测极限，为无机质谱增加了杂质深度分析、三维离子图像处理及微区元素和同位素测量能力。...
一文了解质谱相对强度
静态二次离子质谱法中相对强度范围的重复性和稳定性 英国标准学会，关于质谱中相对强度的标准 BS ISO 17862-2013 表面化学分析.次级离子质谱法.单离子计数飞行时间质量分析器强度标的线性 BS ISO 17862-2013 表面化学分析.次级离子质谱法.单离子计数飞行时间质量分析器强度标的线性 BS ISO 23830-2008 表面化学分析.次级离子质谱法.静态次级离子质谱法中相对强度数值范围的重复性和稳定性...
二次离子质谱仪同时分析非金属元素和金属元素
该发明使用sims分析二次离子，用snms对中性粒子分析，可以在线获得样品中更多的信息，保留了微区分析的特点，没有基体效应。其特点有：分隔的真空腔体有利于溅射中性粒子的收集和离子化；中性粒子的离子化可以使用电子轰击、热电离、激光共振等成熟的离子化技术；质量分析器可以使用小型的四极杆或者飞行时间质量分析器，基于电场的独立小型质量分析器有利于减小仪器体积和缩短分析时间。 ...
二次离子质谱（SIMS）的原理特点和应用
飞行时间二次离子质谱仪(ToF-SIMS) 在此类质谱仪中，二次离子被提取到无场漂移管，二次离子沿既定飞行路径到达离子检测器。由于给定离子的速度与其质量成反比，因此它的飞行时间会相应不同，较重的离子到达检测器的时间会比较轻的离子更晚。此类质谱仪可同时检测所有给定极性的二次离子，并具有极佳质量分辨率。...