BS ISO 13084:2018
表面化学分析 二次离子质谱分析 飞行时间二次离子质谱仪的质量标度校准

Surface chemical analysis. Secondary ion mass spectrometry. Calibration of the mass scale for a time-of-flight secondary ion mass spectrometer


BS ISO 13084:2018 发布历史

BS ISO 13084:2018由英国标准学会 GB-BSI 发布于 2018-11-30,并于 2018-11-30 实施。

BS ISO 13084:2018在国际标准分类中归属于: 71.040.40 化学分析。

BS ISO 13084:2018 表面化学分析 二次离子质谱分析 飞行时间二次离子质谱仪的质量标度校准的最新版本是哪一版?

最新版本是 BS ISO 13084:2018

BS ISO 13084:2018的历代版本如下:

  • 2018年 BS ISO 13084:2018 表面化学分析 二次离子质谱分析 飞行时间二次离子质谱仪的质量标度校准
  • 2011年 BS ISO 13084:2011 表面化学分析.二次离子质谱.飞行时间二次离子质谱用质量标度的校准

 

这个标准是关于什么的?本文件规定了一种优化用于一般分析目的的飞行时间二次离子质谱 (SIMS) 仪器质量校准精度的方法。它仅适用于飞行时间仪器,但不限于任何特定的仪器设计。为可以使用此程序优化的一些仪器参数以及适合校准质量标度以获得最佳质量精度的通用峰类型提供了指导

BS ISO 13084:2018

标准号
BS ISO 13084:2018
发布
2018年
发布单位
英国标准学会
当前最新
BS ISO 13084:2018
 
 

BS ISO 13084:2018相似标准


推荐

邀请丨基于双束电镜飞行时间二次离子谱TOF-SIMS在材料科学领域应用专题讲座及现场演示

二次离子谱 (Secondary Ion Mass Spectrometry,SIMS) 是一种材料表面化学分析技术,它依赖于收集和分离从材料表面产生二次离子, 根据检测到离子荷比 (m/z)而给出材料表面成分信息。飞行时间二次离子谱(ToF-SIMS)是谱分析其中一种方法或者是其中一种类型谱分析仪。固体表面激发二次离子是双束聚焦离子束轰击样品所产生信号之一。...

网络研讨会:基于双束电镜聚焦离子飞行时间二次离子谱(ToF-SIMS)在材料科学领域中应用

飞行时间二次离子谱(ToF-SIMS)是谱分析其中一种方法或者是其中一种类型谱分析仪。固体表面激发二次离子是双束聚焦离子束轰击样品所产生信号之一。基于双束扫描电镜聚焦离子束(DualBeam SEM-FIB)二次离子谱和专用二次离子质谱仪主要区别之一是分析离子束(primary ion beam or analytical beam)离子类型和离子种类。...

实验室分析仪器--质谱仪器介绍

随着二次离子质谱仪诞生、发展和成熟,出现了由不同分析器与二次离子源组成四极杆二次离子质谱仪(Q-SIMS)、双聚焦二次离子质谱仪(DF-SIMS)和飞行时间二次离子质谱仪(tOF-SMS)。它们以其高质量分辨率、高检测灵敏度、低检测极限,为无机谱增加了杂质深度分析、三维离子图像处理及微区元素和同位素测量能力。...

一文了解谱相对强度

静态二次离子质谱法中相对强度范围重复性和稳定性  英国标准学会,关于谱中相对强度标准  BS ISO 17862-2013 表面化学分析.次级离子质谱法.单离子计数飞行时间质量分析器强度标的线性  BS ISO 17862-2013 表面化学分析.次级离子质谱法.单离子计数飞行时间质量分析器强度标的线性  BS ISO 23830-2008 表面化学分析.次级离子质谱法.静态次级离子质谱法中相对强度数值范围重复性和稳定性...


BS ISO 13084:2018 中可能用到的仪器设备





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号