[产品简介]蔡司X射线显微镜XradiaCrystalCT，是一种商业化实验室衍射衬度断层成像（DCT）系统，它是建在微米CT上的。该系统能够为工业和科研实验室提供解决方案，实现各种金属和合金、增材制造、陶瓷和药物样品等多晶材料的三维晶体学成像。同时，通过最新的高级数据采集模式，XradiaCrystalCT可以实现大样品体区域的无缝数据采集，提高采集速度并减少样品准备时间。相较于传统的破坏性三维晶体学成像方法，大体积的无损晶粒成像能够大幅提高实验数据体的代表性。XradiaCrystalCT建立在高度成熟稳定的蔡司XradiaVersa平台上，具备图像质量、稳定性和易用性均属上乘，且具备高效的工作流环境和高通量扫描功能。它还兼容ART3.0高级重构工具箱，可以利用AI技术提高成像效率或改善成像质量。

[产品特点]ü 可测晶粒尺寸20umü 晶粒取向角分辨率0.1°ü 各种晶型全覆盖ü 样品尺寸可达几个mmü 基于“黄金角”的高级扫描模式ü 高分辨率微米CT成像可实现高达500nm体素分辨率的成像，成像空间分辨率达到0.95umü 可实现大视野CT成像，单次扫描即可对宽度达140mm、高度达93mm的大样品进行成像

[应用领域]ü 材料科学，如钢铁，合金材料，陶瓷等晶体分析及微观结构断层扫描成像ü 生命科学，如药物晶体分析，或微观结构断层扫描成像ü 地球科学，如橄榄石晶体分析，或微观结构断层扫描成像ü 工业领域，如冶金，太阳能多晶硅板晶体分析， 或微观结构断层扫描成像、工业检测。