专为TKD分析而设计的样品座，TKD是指透射菊池花样演示分析（Transmission Kikuchi Diffraction）技术，是一种用于检测十几纳米尺度的EBSD分析方法。这种技术的空间分辨率比传统技术提高了一个数量级。该样品座方便用户将超轻薄的样品放置在SEM中，并产生符合光学原理的衍射花样，以确保获得更准确的信号量。
TKD分析仍然使用原有的EBSD软硬件，但样品更薄，并经过电解抛光穿孔。由于衍射信号来自样品下侧几个或几十个纳米厚度的区域，这种技术也被称为透射EBSD（T-EBSD）。样品薄区的衍射范围较小，样品与探测器及极靴的几何位置是获得有效信号的必要条件之一。因此，专门设计的TKD样品座就显得尤为重要。
TKD样品座专为超薄样品设计，易于固定，并符合光学原理。将其置于SEM中，即可使用AZtec EBSD系统轻松实现高分辨率的EBSD分析。