半导体晶圆拉曼光谱测试系统
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半导体晶圆拉曼光谱测试系统

产品属性

  • 品牌卓立汉光
  • 产地中国
  • 型号半导体晶圆
  • 关注度5
  • 信息完整度
  • 产地类别国产
关闭

发布时间:2024年04月

产品描述

半导体晶圆拉曼光谱测试系统R1——应力、组分、载流子浓度

面向半导体晶圆检测的拉曼光谱测试系统
主要功能:

•光穿过介质时被原子和分子散射的光发生频率变化,该现象称为拉曼散射。

•拉曼光谱的强度、频移、线宽、特征峰数目以及退偏度与分子的振动能态、转动能态、对称性等紧密相关

•广泛地应用于半导体材料的质量监控、失效分析。



仪器架构:



性能参数:

 

拉曼激发和收集模块

激光波长

532 nm

激光功率

100 mW

自动对焦

•在全扫描范围自动聚焦和实时表面跟踪

•对焦精度<0.2微米

显微镜

•用于样品定位和成像

•100x,半复消色差物镜

•空间分辨率<2微米

拉曼频移范围

80-9000 cm-1

样品移动和扫描平台

平移台

•扫描范围大于300x300mm。

•最小分辨率1微米。


样品台

•8寸吸气台(12寸可定制)

•可兼容2、4、6、8寸晶圆片

光谱仪和探测器

光谱仪

•320 mm焦长单色仪,接面阵探测器。

•分辨率<2.0 cm-1。

软件

控制软件

•可选择区域或指定点位自动进行逐点光谱采集

Mapping数据分析软件

•可对光谱峰位、峰高和半高宽等进行拟合。

•可自动拟合并计算应力、晶化率、载流子浓度等信息,样品数据库可定制。

•将拟合结果以二维图像方式显示。

 

晶圆Mapping软件界面

数据分析软件界面

应力检测—GaN晶圆片

利用拉曼光谱568 cm-1位置的特征峰位移动,可以检测GaN晶圆表面应力分布。类似方法还可应用于表征Si/SiC/GaAs等多种半导体。

载流子浓度检测——SiC晶圆片

组分检测——结晶硅薄膜晶化率测试

结晶率指晶态硅与晶界占非晶态、晶态、晶界总和的质量百分比或体积百分比,是评价结晶硅薄膜晶化效果的一项重要指标。晶化率

北京卓立汉光仪器有限公司

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