Ultim Max是新一代硅漂移型探测器（SDD)，配有大面积晶体和低噪音电子元器件，分析速度和探测灵敏性都有大幅提升。

　　Ultim Max采集效率可达以往的17倍，而且不会降低精度。无论您是想做更大区域的面扫描，或者在每个点分析中获得更好的统计数据，更快地采集数据，还是研究最小的纳米结构，Ultim Max都是SEM中X射线分析的理想工具。

　　速度-低噪音电子元器件和X4脉冲处理器的结合，使Ultim Max能够在1,500,000 cps的计数率下对样品进行面分析，并在400,000 cps计数率下进行精确定量。

　　灵敏度-晶体尺寸有着很大影响。使用Ultim Max的大面积晶体（100 mm²和170 mm²），可大幅提高极端分析条件下的计数率。